[发明专利]冗余分析电路以及包括其的存储系统在审
| 申请号: | 202011173443.2 | 申请日: | 2020-10-28 |
| 公开(公告)号: | CN113744793A | 公开(公告)日: | 2021-12-03 |
| 发明(设计)人: | 林在日;金头铉;金宝拉;李圣恩 | 申请(专利权)人: | 爱思开海力士有限公司 |
| 主分类号: | G11C29/44 | 分类号: | G11C29/44 |
| 代理公司: | 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 | 代理人: | 许伟群;阮爱青 |
| 地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 冗余 分析 电路 以及 包括 存储系统 | ||
1.一种存储系统,包括:
存储器件,其包括多个存储体,每个存储体包括用于替换有缺陷的行和列的行备用和列备用;以及
存储器控制器,其适用于控制所述存储器件的操作,
其中,所述存储器控制器包括:
内置自测试BIST电路,其适用于对所述多个存储体执行测试操作,以及基于所述测试操作的结果来产生针对每个存储体的故障地址;以及
内置冗余分析BIRA电路,其适用于通过分别对可修复的行备用和可修复的列备用的数量进行计数来确定第一备用计数和第二备用计数,以及根据所述第一备用计数和所述第二备用计数,从针对每个存储体的所述故障地址中选择目标修复地址。
2.根据权利要求1所述的存储系统,
其中,所述BIRA电路判断所述故障地址中的每个是对应于备用枢纽还是非备用枢纽,其中每个备用枢纽的行地址和列地址与先前检测到的故障单元的行地址和列地址中的任何一个都不重叠,以及
其中,当被分类为备用枢纽的所述故障地址的数量大于所述第一备用计数和所述第二备用计数的和时,所述BIRA电路不选择所述目标修复地址。
3.根据权利要求1所述的存储系统,其中,所述BIRA电路包括:
故障地址储存电路,其适用于储存从所述BIST电路提供的所述故障地址;
冗余信息获取电路,其适用于通过分别对可修复的行备用和可修复的列备用的数量进行计数来产生所述第一备用计数和所述第二备用计数;
计数信息储存电路,其适用于储存针对每个存储体的所述第一备用计数和所述第二备用计数;以及
目标选择电路,其适用于根据所述第一备用计数和所述第二备用计数,从针对每个存储体的所述故障地址中选择所述目标修复地址。
4.根据权利要求3所述的存储系统,
其中,所述存储器件包括:冗余信息储存电路,其包括用于储存针对每个存储体的故障信息的多个存储器组,以及
其中,所述冗余信息获取电路基于表示所述存储器组是否储存了有效故障信息的使能信息来对可修复的行备用和可修复的列备用的数量进行计数。
5.根据权利要求3所述的存储系统,其中,所述计数信息储存电路包括多个计数线并且将针对每个存储体的所述第一备用计数和所述第二备用计数储存到相应的计数线,每个计数线与所述存储体相对应。
6.根据权利要求3所述的存储系统,其中,所述目标选择电路包括:
枢纽分析器,其适用于通过判断所述故障地址是对应于备用枢纽还是非备用枢纽来输出备用有效比特位,并且通过判断所述非备用枢纽是处于交叉状态还是处于非交叉状态来输出非备用状态比特位;
第一枢纽处理器,其适用于根据所述第一备用计数和所述第二备用计数、所述备用有效比特位和所述故障地址来处理所述备用枢纽;
第二枢纽处理器,其适用于根据所述第一枢纽处理器的结果、所述第一备用计数和所述第二备用计数、所述非备用状态比特位和所述故障地址来处理处于所述交叉状态下的所述非备用枢纽;以及
解导出组件,其适用于根据所述第二枢纽处理器的结果来选择所述目标修复地址,以及向每个存储体提供修复信息。
7.根据权利要求6所述的存储系统,其中,所述枢纽分析器适用于:
判断所述故障地址是对应于所述备用枢纽还是所述非备用枢纽,其中,所述备用枢纽的行地址和列地址与储存在所述故障地址储存电路中的所述故障地址的行地址和列地址中的任何一个都不重叠;以及
在所述非备用枢纽的行地址和列地址与所述备用枢纽的行地址和列地址重叠的情况下,确定所述非备用枢纽处于所述交叉状态,而在所述非备用枢纽的行地址或列地址与所述备用枢纽的行地址或列地址不重叠的情况下,确定所述非备用枢纽处于所述非交叉状态。
8.根据权利要求6所述的存储系统,其中,所述第一枢纽处理器包括其大小由所述第一备用计数和所述第二备用计数来设定的第一表,并且根据所述备用有效比特位而将所述故障地址储存到所述第一表中。
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