[发明专利]功耗测量组件及方法、芯片功耗测量装置在审
| 申请号： | 202011058673.4 | 申请日： | 2020-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN114333971A | 公开（公告）日： | 2022-04-12 |
| 发明（设计）人： | 陈鑫旺;马茂松;周张琴 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/50 | 分类号： | G11C29/50;G01R21/06 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 王辉;阚梓瑄 |
| 地址： | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本公开是关于一种功耗测量组件及方法、芯片功耗测量装置，涉及集成电路技术领域。该功耗测量组件包括：至少两个采样模块，分别串联在所述待测电路中；选通模块，用于选通所述至少两个采样模块中的一个；放大模块，用于采集选通的所述采样模块两端的电压信号并放大；处理模块，与所述选通模块、所述放大模块连接，用于控制调整选通的所述采样模块以及所述放大模块的放大倍数，并根据放大的所述电压信号计算功耗值，发送所述功耗值。本公开可以增大功耗测量组件的电流测量范围，满足更多种类的待测电路中电流的变化情况。 | ||
| 搜索关键词： | 功耗 测量 组件 方法 芯片 装置 | ||
【主权项】：
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