[发明专利]功耗测量组件及方法、芯片功耗测量装置

说明书

本公开是关于一种功耗测量组件及方法、芯片功耗测量装置，涉及集成电路技术领域。该功耗测量组件包括：至少两个采样模块，分别串联在所述待测电路中；选通模块，用于选通所述至少两个采样模块中的一个；放大模块，用于采集选通的所述采样模块两端的电压信号并放大；处理模块，与所述选通模块、所述放大模块连接，用于控制调整选通的所述采样模块以及所述放大模块的放大倍数，并根据放大的所述电压信号计算功耗值，发送所述功耗值。本公开可以增大功耗测量组件的电流测量范围，满足更多种类的待测电路中电流的变化情况。

技术领域

本公开涉及集成电路技术领域，具体而言，涉及一种功耗测量组件及方法、芯片功耗测量装置

背景技术

通常对芯片而言，其功耗是芯片设计及运行阶段必不可少的性能参数。芯片的功耗过大，对散热及运行环境等各方面都有很大影响。因此对于功耗的测量显得尤为重要。

同步动态随机存储器(Synchronous Dynamic Random Access Memory，SDRAM)是计算机中常用的半导体存储器件。由于SDRAM芯片的供电电压是固定的，通常在测量其上的各组电源的功耗时，只要测量出电流大小即可。传统的测量电流方法是在电源信号上串联电流采样电阻，并用万用表或者示波器来测量电流采样电阻两端的压降，用压降值除以电流采样电阻的阻值，即可算出电流。

然而，由于SDRAM芯片中各组电源上的电流动态范围过大，导致传统的电流测量方法难以满足需求。

需要说明的是，在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

本公开的目的在于提供一种功耗测量组件及方法、芯片功耗测量装置，进而至少在一定程度上克服在芯片中各组电源上的电流动态范围过大时，导致的传统的电流测量方法难以满足需求的问题。

本公开的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本发明的实践而习得。

根据本公开的第一方面，提供一种功耗测量组件，用于待测电路，所述功耗测量组件包括：

至少两个采样模块，分别串联在所述待测电路中；

选通模块，用于选通所述至少两个采样模块中的一个；

放大模块，用于采集选通的所述采样模块两端的电压信号并放大；

处理模块，与所述选通模块、所述放大模块连接，用于控制调整选通的所述采样模块以及所述放大模块的放大倍数，并根据放大的所述电压信号计算功耗值，发送所述功耗值。

可选的，所述处理模块包括：

模数转换器，与所述放大模块连接，用于将所述电压信号转换为数字信号；

运算模块，用于根据所述数字信号计算所述功耗值；

控制逻辑模块，用于控制调整选通的所述采样模块以及所述放大模块的放大倍数；

串口，用于连接上位机，并将所述功耗值发送至所述上位机。

可选的，所述控制逻辑模块，用于控制调整选通的所述采样模块以及所述放大模块的放大倍数的步骤，包括：

所述控制逻辑模块，用于根据所述待测电路的电流范围、所述模数转换器的可转换电压范围、以及所述选通模块和所述采样电阻上的压降范围，确定选通的所述采样模块以及所述放大模块的放大倍数。

可选的，所述放大模块包括至少两个通道，所述通道的输入端连接其中一个所述采样模块的两端，所述通道的输出端与所述模数转换器连接。

可选的，所述采样模块为采样电阻，所述至少两个采样电阻的阻值不同；所述放大模块包括至少两个可选的放大倍数。