[发明专利]功耗测量组件及方法、芯片功耗测量装置

权利要求书

1.一种功耗测量组件，用于待测电路，其特征在于，所述功耗测量组件包括：

至少两个采样模块，分别串联在所述待测电路中；

选通模块，用于选通所述至少两个采样模块中的一个；

放大模块，用于采集选通的所述采样模块两端的电压信号并放大；

处理模块，与所述选通模块、所述放大模块连接，用于控制调整选通的所述采样模块以及所述放大模块的放大倍数，并根据放大的所述电压信号计算功耗值，发送所述功耗值。

2.根据权利要求1所述的功耗测量组件，其特征在于，所述处理模块包括：

模数转换器，与所述放大模块连接，用于将所述电压信号转换为数字信号；

运算模块，用于根据所述数字信号计算所述功耗值；

控制逻辑模块，用于控制调整选通的所述采样模块以及所述放大模块的放大倍数；

串口，用于连接上位机，并将所述功耗值发送至所述上位机。

3.根据权利要求2所述的功耗测量组件，其特征在于，所述控制逻辑模块，用于控制调整选通的所述采样模块以及所述放大模块的放大倍数的步骤，包括：

所述控制逻辑模块，用于根据所述待测电路的电流范围、所述模数转换器的可转换电压范围、以及所述选通模块和所述采样电阻上的压降范围，确定选通的所述采样模块以及所述放大模块的放大倍数。

4.根据权利要求2所述的功耗测量组件，其特征在于，所述放大模块包括至少两个通道，所述通道的输入端连接其中一个所述采样模块的两端，所述通道的输出端与所述模数转换器连接。

5.根据权利要求1所述的功耗测量组件，其特征在于，所述采样模块为采样电阻，所述至少两个采样电阻的阻值不同；所述放大模块包括至少两个可选的放大倍数。

6.根据权利要求5所述的功耗测量组件，其特征在于，所述采样电阻的阻值范围为50mΩ-10Ω，所述放大模块的放大倍数范围为10倍-200倍。

7.根据权利要求1所述的功耗测量组件，其特征在于，所述功耗测量组件还包括基板；

所述采样模块、所述选通模块、所述放大模块、所述处理模块均设置在所述基板上。

8.一种功耗测量方法，用于如权利要求1-7任一项所述的功耗测量组件，其特征在于，所述方法包括：

控制调整选通的所述功耗测量组件的采样模块和放大模块的放大倍数；

采集所述采样模块两端的电压信号并放大；

根据放大的所述电压信号计算功耗值，发送所述功耗值。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述方法包括：

执行电流获取步骤，所述电流获取步骤包括控制所述功耗测量组件的选通模块选通所述采样模块和所述放大模块的放大倍数；

控制所述放大模块采集选通的所述采样模块两端的电压信号并放大；

根据放大的所述电压信号换算出相应的电流值和功耗值；

比较所述电流值和所述功耗测量组件的可测量电流范围；

若所述电流值在所述可测量电流范围内，则发送所述功耗值，并继续执行所述电流获取步骤；

若所述电流值不在所述可测量电流范围内，则调整选通的所述采样模块和/或所述放大模块的放大倍数，并转至所述电流获取步骤。

10.一种芯片功耗测量装置，其特征在于，包括：

芯片；

如权利要求1-7任一项所述的功耗测量组件；

其中，所述功耗测量组件的采样模块串联在所述芯片的电源管脚上。

11.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，还包括垫高板，所述垫高板位于所述功耗测量组件和所述芯片所在的主板之间，用于垫高所述功耗测量组件。

12.根据权利要求11所述的装置，其特征在于，所述垫高板横截面尺寸与所述芯片的横截面尺寸相同，所述垫高板的高度大于或等于所述芯片的厚度。