[发明专利]一种半导体用检测装置在审
| 申请号： | 202010974707.8 | 申请日： | 2020-09-16 |
| 公开（公告）号： | CN112098360A | 公开（公告）日： | 2020-12-18 |
| 发明（设计）人： | 黄静怡 | 申请（专利权）人： | 广州正心科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/3581 | 分类号： | G01N21/3581;G01N21/01 |
| 代理公司： | 北京冠和权律师事务所 11399 | 代理人： | 田鸿儒 |
| 地址： | 510000 广东省广州市天*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及半导体技术领域，且公开了一种半导体用检测装置，包括底板，所述底板上表面固定连接有支撑板，所述支撑板上表面固定连接有检测座，所述检测座背面左右两侧均设置有第一固定块，所述第一固定块内侧面固定连接有第一转轴，所述第一转轴外表面套接有第二固定块，所述第二固定块上表面固定连接有盖板，所述检测座正面设置有锁定装置。该半导体用检测装置，通过设置固定轴、第二固定块、弹簧和连接轴，使锁定杆可以较为方便稳定的对固定杆进行锁定，从而使盖板和检测座可以较为稳定有效带动进行连接，使检测座和盖板较为精准的对QFP封装集成电路进行检测，较为有效的避免了测试结果出现偏差的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 检测 装置 | ||
【主权项】：
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