[发明专利]一种半导体用检测装置

权利要求书

1.一种半导体用检测装置，包括底板(1)，其特征在于：所述底板(1)上表面固定连接有支撑板(2)，所述支撑板(2)上表面固定连接有检测座(3)，所述检测座(3)背面左右两侧均设置有第一固定块(4)，所述第一固定块(4)内侧面固定连接有第一转轴(5)，所述第一转轴(5)外表面套接有第二固定块(6)，所述第二固定块(6)上表面固定连接有盖板(7)，所述检测座(3)正面设置有锁定装置(8)，所述检测座(3)上表面开设有放置槽(9)，所述放置槽(9)内侧面开设有矩形槽(10)，所述矩形槽(10)内部设置有限位装置(11)，所述盖板(7)上表面固定连接有操纵握把(12)。

2.根据权利要求1所述的一种半导体用检测装置，其特征在于：所述锁定装置(8)包括第二转轴(801)，第二转轴(801)与检测座(3)正面转动连接，第二转轴(801)正面固定连接有旋转块(802)，检测座(3)正面左右两侧均固定连接有固定轴(803)，固定轴(803)外表面套接有锁定杆(804)，检测座(3)正面左右两侧均固定连接有第二固定块(805)，第二固定块(805)内侧面固定连接有弹簧(806)，弹簧(806)内端与锁定杆(804)外侧面顶部固定连接，锁定杆(804)内侧面底部插接有连接轴(807)，盖板(7)上表面左右两侧均固定连接有固定杆(808)，连接轴(807)外表面套接有连接绳(809)，连接绳(809)内端与第二转轴(801)外表面固定连接。

3.根据权利要求1所述的一种半导体用检测装置，其特征在于：所述限位装置(11)包括滑槽(1101)，滑槽(1101)内部设置有移动杆(1102)，移动杆(1102)内侧面固定连接有限位板(1103)，移动杆(1102)上表面与下表面外侧均固定连接有连接块(1104)，连接块(1104)内侧面插接有第一圆轴(1105)，检测座(3)外侧面底部和顶部均固定连接有第三固定块(1106)，第三固定块(1106)内侧面插接有第二圆轴(1107)，第二圆轴(1107)外表面套接有蜗轮(1108)，检测座(3)外侧面转动连接有第三转轴(1109)，第三转轴(1109)外表面套接有蜗杆(1110)，蜗轮(1108)与蜗杆(1110)啮合，第三转轴(1109)外侧面固定连接有转盘(1111)，第三转轴(1109)外表面套接有传动杆(1112)，传动杆(1112)内侧面开设有圆形滑槽(1113)。

4.根据权利要求2所述的一种半导体用检测装置，其特征在于：所述固定杆(808)外侧面底部开设有第一卡槽，且锁定杆(804)内侧面顶部开设有第二卡槽，第一卡槽与第二卡槽啮合。

5.根据权利要求3所述的一种半导体用检测装置，其特征在于：所述圆形滑槽(1113)的宽度与第一圆轴(1105)的内径相适配，且圆形滑槽(1113)的宽度为五毫米。

6.根据权利要求1所述的一种半导体用检测装置，其特征在于：所述支撑板(2)外侧面顶部和底部均固定连接有三棱块，位于底部的三棱块下表面与底板(1)上表面焊接，位于顶部的三棱块上表面与检测座(3)下表面皿焊接。

7.根据权利要求1所述的一种半导体用检测装置，其特征在于：所述操纵握把(12)外表面设置有橡胶防滑圆环垫，且橡胶防滑圆环垫外表面设置有井形纹路。