[发明专利]晶片清洗装置及晶片清洗方法在审

专利信息
申请号: 202010944394.1 申请日: 2020-09-09
公开(公告)号: CN114226294A 公开(公告)日: 2022-03-25
发明(设计)人: 申埈燮;张月;杨涛;卢一泓;刘青 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所;真芯(北京)半导体有限责任公司
主分类号: B08B1/00 分类号: B08B1/00;B08B1/04;B08B3/08;H01L21/67
代理公司: 北京兰亭信通知识产权代理有限公司 11667 代理人: 赵永刚
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种晶片清洗装置及晶片清洗方法,其中,晶片清洗装置包括:支架、清洁刷、第一驱动件和清洗槽;所述支架用于支撑所述晶片;所述清洁刷用于对所述待清洗表面进行清洗;所述清洗槽内装有清洗液,至少部分晶片位于所述清洗液内;所述第一驱动件与所述晶片连接,所述第一驱动件用于驱动所述晶片绕第一方向旋转,所述第一方向垂直于所述待清洗表面。本发明提高的晶片清洗装置的清洗效果好,清洗效率高。
搜索关键词: 晶片 清洗 装置 方法
【主权项】:
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