[发明专利]集成电路器件和制造其的方法在审

专利信息
申请号: 202010869840.7 申请日: 2020-08-26
公开(公告)号: CN112447758A 公开(公告)日: 2021-03-05
发明(设计)人: 崔恩荣;李洙衡;李要韩;赵容锡 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L27/1157 分类号: H01L27/1157;H01L27/11582
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 张波
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种集成电路器件和制造其的方法。该集成电路器件包括:沟道层,在穿透导电层和绝缘层的沟道孔中;电荷捕获图案,在导电层与沟道层之间在沟道孔内部;以及虚设电荷捕获图案,在绝缘层与沟道层之间在沟道孔内部。为了制造该集成电路器件,形成穿透绝缘层和模制层的沟道孔。形成连接到沟道孔的模制凹口。在模制凹口中形成初始电介质图案。氧化初始电介质图案以形成第一阻挡电介质图案。在沟道孔中形成电荷捕获层。去除模制层以形成导电空间。去除电荷捕获层的一部分以形成电荷捕获图案和虚设电荷捕获图案。
搜索关键词: 集成电路 器件 制造 方法
【主权项】:
暂无信息
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