[发明专利]发光器件寿命测试方法、系统、终端设备及存储介质在审
| 申请号： | 202010863910.8 | 申请日： | 2020-08-25 |
| 公开（公告）号： | CN114117711A | 公开（公告）日： | 2022-03-01 |
| 发明（设计）人： | 洪佳婷;敖资通;柳春美 | 申请（专利权）人： | TCL科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G06F119/04 |
| 代理公司： | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人： | 肖遥 |
| 地址： | 516006 广东省惠州市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种发光器件寿命测试方法、系统、终端设备及存储介质，该方法包括：对待测试发光器件进行寿命测试；若亮度衰减值满足预设衰减条件，将亮度衰减值对应的亮度值设置为结束亮度，对待测试发光器件进行亮度检测得到真实亮度；根据起始亮度、亮度衰减值和结束亮度确定器件寿命曲线，根据真实亮度对器件寿命曲线进行曲线校准；根据校准后的器件寿命曲线对待测试发光器件的额定发光亮度进行寿命计算，得到待测试发光器件的寿命。本申请通过对待测试发光器件进行亮度检测的设计，以获取表征待测试发光器件上发光面对应的真实亮度值，通过根据真实亮度对器件寿命曲线进行曲线校准的设计，以提高对待测试发光器件寿命计算的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 发光 器件 寿命 测试 方法 系统 终端设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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