[发明专利]发光器件寿命测试方法、系统、终端设备及存储介质

说明书

本申请提供了一种发光器件寿命测试方法、系统、终端设备及存储介质，该方法包括：对待测试发光器件进行寿命测试；若亮度衰减值满足预设衰减条件，将亮度衰减值对应的亮度值设置为结束亮度，对待测试发光器件进行亮度检测得到真实亮度；根据起始亮度、亮度衰减值和结束亮度确定器件寿命曲线，根据真实亮度对器件寿命曲线进行曲线校准；根据校准后的器件寿命曲线对待测试发光器件的额定发光亮度进行寿命计算，得到待测试发光器件的寿命。本申请通过对待测试发光器件进行亮度检测的设计，以获取表征待测试发光器件上发光面对应的真实亮度值，通过根据真实亮度对器件寿命曲线进行曲线校准的设计，以提高对待测试发光器件寿命计算的准确性。

技术领域

本申请属于发光器件检测领域，尤其涉及一种发光器件寿命测试方法、系统、终端设备及存储介质。

背景技术

通常将物体向外发射出可见光的现象称为发光，而发光器件是具有发光功能的器件，发光器件通过内部的空穴与外部输入的电子进行复合，以释放能量进行发光，使得发光器件可高效地将电能转化为光能，在现代社会具有广泛的用途，例如，照明、平板显示和医疗器件等领域中的使用。

由于发光器件是一种电子器件，存在着老化及使用寿命等问题，因此，现有的发光器件制造过程中，均需要在产品出厂前进行寿命测试，以保障发光器件的出厂质量，但现有的发光器件寿命测试过程中，均是仅基于发光器件上发光面的亮度衰减值进行寿命的计算，但当发光器件的发光面不均匀时，使得发光器件上不同发光面对应的亮度衰减值不相同，进而导致发光器件寿命测试准确性低下。

发明内容

本申请实施例提供了一种发光器件寿命测试方法、系统、终端设备及存储介质，旨在解决现有的发光器件寿命测试过程中，当发光器件上不同发光面对应的亮度衰减值不相同，所导致的发光器件寿命测试准确性低下的问题。

第一方面，本申请实施例提供了一种发光器件寿命测试方法，所述方法包括：

对待测试发光器件进行寿命测试，所述寿命测试用于获取所述待测试发光器件的起始亮度随测试时间变化的亮度衰减值；

若所述亮度衰减值满足预设衰减条件，则判定所述待测试发光器件上发光面处于均匀发光状态，将所述亮度衰减值对应的亮度值设置为所述待测试发光器件的结束亮度，并对所述待测试发光器件进行亮度检测，得到真实亮度；

根据所述起始亮度、所述亮度衰减值和所述结束亮度确定器件寿命曲线，并根据所述真实亮度对所述器件寿命曲线进行曲线校准；

获取所述待测试发光器件的额定发光亮度，并根据校准后的所述器件寿命曲线对所述额定发光亮度进行寿命计算，得到所述待测试发光器件的寿命。

本申请实施例与现有技术相比存在的有益效果是：若亮度衰减值满足预设衰减条件，则判定待测试发光器件上发光面处于均匀发光状态，通过对待测试发光器件进行亮度检测的设计，以获取表征待测试发光器件上发光面对应的真实亮度值，通过根据真实亮度对器件寿命曲线进行曲线校准的设计，以提高器件寿命曲线的准确性，进而提高了对待测试发光器件寿命计算的准确性。

进一步地，所述根据所述起始亮度、所述亮度衰减值和所述结束亮度确定器件寿命曲线，包括：

获取所述待测试发光器件在不同所述测试时间对应的所述亮度衰减值，并分别计算不同所述亮度衰减值与所述起始亮度之间的乘积，得到不同所述测试时间对应的亮度显示值；

以所述测试时间为横坐标，所述亮度显示值为纵坐标确定所述器件寿命曲线。

进一步地，所述根据所述真实亮度对所述器件寿命曲线进行曲线校准，包括：

计算所述真实亮度与所述结束亮度之间的亮度比值，并分别计算所述亮度比值与不同所述亮度显示值之间的乘积，得到亮度校准值；

根据所述亮度校准值对所述器件寿命曲线中对应所述亮度显示值的坐标点进行纵坐标参数值的替换。