[发明专利]发光器件寿命测试方法、系统、终端设备及存储介质

权利要求书

1.一种发光器件寿命测试方法，其特征在于，包括：

对待测试发光器件进行寿命测试，所述寿命测试用于获取所述待测试发光器件的起始亮度随测试时间变化的亮度衰减值；

若所述亮度衰减值满足预设衰减条件，则判定所述待测试发光器件上发光面处于均匀发光状态，将所述亮度衰减值对应的亮度值设置为所述待测试发光器件的结束亮度，并对所述待测试发光器件进行亮度检测，得到真实亮度；

根据所述起始亮度、所述亮度衰减值和所述结束亮度确定器件寿命曲线，并根据所述真实亮度对所述器件寿命曲线进行曲线校准；

获取所述待测试发光器件的额定发光亮度，并根据校准后的所述器件寿命曲线对所述额定发光亮度进行寿命计算，得到所述待测试发光器件的寿命。

2.如权利要求1所述的发光器件寿命测试方法，其特征在于，所述根据所述起始亮度、所述亮度衰减值和所述结束亮度确定器件寿命曲线，包括：

获取所述待测试发光器件在不同所述测试时间对应的所述亮度衰减值，并分别计算不同所述亮度衰减值与所述起始亮度之间的乘积，得到不同所述测试时间对应的亮度显示值；

以所述测试时间为横坐标，所述亮度显示值为纵坐标确定所述器件寿命曲线。

3.如权利要求2所述的发光器件寿命测试方法，其特征在于，所述根据所述真实亮度对所述器件寿命曲线进行曲线校准，包括：

计算所述真实亮度与所述结束亮度之间的亮度比值，并分别计算所述亮度比值与不同所述亮度显示值之间的乘积，得到亮度校准值；

根据所述亮度校准值对所述器件寿命曲线中对应所述亮度显示值的坐标点进行纵坐标参数值的替换。

4.如权利要求2所述的发光器件寿命测试方法，其特征在于，所述根据校准后的所述器件寿命曲线对所述额定发光亮度进行寿命计算，得到所述待测试发光器件的寿命，包括：

获取校准后的所述器件寿命曲线中的最大亮度显示值，并获取所述结束亮度在校准前的所述器件寿命曲线中对应的所述测试时间，得到结束时间；

根据所述最大亮度显示值、所述结束时间和所述额定发光亮度进行寿命计算，得到所述器件工作寿命。

5.如权利要求4所述的发光器件寿命测试方法，其特征在于，根据所述最大亮度显示值、所述结束时间和所述额定发光亮度进行寿命计算所采用的技术公式为：

L₀^A*T₀＝L_x^A*T_x

其中，L₀为所述最大亮度显示值，T₀为所述结束时间，L_x为所述额定发光亮度，T_x为所述器件工作寿命，A为所述待测试发光器件对应的寿命加速因子。

6.如权利要求1所述的发光器件寿命测试方法，其特征在于，所述对所述待测试发光器件进行亮度检测，得到真实亮度，包括：

根据亮度计对所述待测试发光器件中的指定区域进行亮度检测，得到区域亮度值；

计算所述区域亮度值的平均值，并将所述平均值设置为所述真实亮度。

7.如权利要求1所述的发光器件寿命测试方法，其特征在于，所述获取所述待测试发光器件的起始亮度和所述起始亮度随测试时间变化的亮度衰减值之后，还包括：

若所述亮度衰减值小于或等于衰减阈值，则判定所述亮度衰减值满足预设衰减条件。