[发明专利]用于处理基板的装置和方法在审
申请号: | 202010860335.6 | 申请日: | 2020-08-24 |
公开(公告)号: | CN112420554A | 公开(公告)日: | 2021-02-26 |
发明(设计)人: | 金俊镐;申景湜;安迎曙;辛辰基;姜湾圭;史允基 | 申请(专利权)人: | 细美事有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人: | 张凯 |
地址: | 韩国忠清南道天安*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及用于处理基板的装置和方法。一种用于处理基板的装置包括:工艺腔室,在所述工艺腔室中具有工艺空间;支承单元,其在所述工艺空间中支承所述基板;加热构件,其加热支承于所述支承单元上的所述基板;和排放单元,其抽排所述工艺空间。所述排放单元包括排放管和热量保持单元,所述热量保持单元具有保持从所述工艺空间释放的热量的保持空间。所述保持空间围绕所述排放管中邻近所述工艺腔室的邻近区域。 | ||
搜索关键词: | 用于 处理 装置 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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