[发明专利]一种表征纳米材料稳定性的方法有效
| 申请号： | 202010824858.5 | 申请日： | 2020-08-17 |
| 公开（公告）号： | CN111965391B | 公开（公告）日： | 2023-07-14 |
| 发明（设计）人： | 沈彩;陈立杭;刘兆平 | 申请（专利权）人： | 中国科学院宁波材料技术与工程研究所 |
| 主分类号： | G01Q60/24 | 分类号： | G01Q60/24;G01Q30/20 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 杨威 |
| 地址： | 315201 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种表征纳米材料稳定性的方法，包括以下步骤：a)采用原子力显微镜的峰值力轻敲模式对待测的纳米材料进行原位扫描，得到不同时间的形貌图；b)通过对步骤a)得到的不同时间的形貌图中选择区域的面积变化，确定纳米刻蚀的速率，得到纳米材料稳定性的表征结果。与现有技术相比，本发明提供得方法首次提出通过原子力显微镜的峰值力轻敲模式对纳米材料稳定性进行表征，该方法操作简单、易于控制、稳定性好，并且表征结果直观、可靠，为研究纳米材料的稳定性提供了新的方法和思路。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 表征 纳米 材料 稳定性 方法 | ||
【主权项】：
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