[发明专利]一种表征纳米材料稳定性的方法

权利要求书

1.一种表征纳米材料稳定性的方法，包括以下步骤：

a)采用原子力显微镜的峰值力轻敲模式对待测的纳米材料进行原位扫描，得到不同时间的形貌图；所述峰值力轻敲模式的悬臂共振频率为2kHz；所述原位扫描的峰值力为0.2nN～1.4nN，扫描范围为0.5μm×0.5μm～10μm×10μm，扫描速率为0.1Hz～30Hz；所述不同时间的形貌图的时间间隔为4min～15min；

b)通过对步骤a)得到的不同时间的形貌图中选择区域的面积变化，确定纳米刻蚀的速率，得到纳米材料稳定性的表征结果；所述选择区域为不同时间的形貌图中同一位置的形貌区域；所述纳米刻蚀的速率的计算方法具体为：

将两幅不同时间的形貌图中，选择区域的面积减少量除以时间差，得到平均纳米刻蚀速率。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤a)中所述原子力显微镜的探针选自接触模式探针、轻敲模式探针或智能模式探针。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，步骤a)中所述探针的悬臂长度为0μm～200μm，弹性系数为0N m^-1～1.0N m^-1，共振频率为0kHz～100kHz。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤a)中所述原位扫描在大气、室温条件下进行，或在手套箱中、室温条件下进行。

5.根据权利要求1～4任一项所述的方法，其特征在于，所述步骤a)还包括：

对待测的纳米材料进行预处理后，在原子力显微镜的样品台固定，再进行原位扫描；

所述预处理的过程具体为：

将待测的纳米材料置于装有无水乙醇的烧杯中，超声分散后用滴管移取分散好的悬浮液滴到硅片上，室温下自然干燥，得到预处理后的纳米材料。