[发明专利]DDR物理层地址命令路径的内建自测试方法及测试系统有效
| 申请号： | 202010756932.4 | 申请日： | 2020-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN111933206B | 公开（公告）日： | 2021-06-18 |
| 发明（设计）人： | 赵文清 | 申请（专利权）人： | 上海安路信息科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 上海恒锐佳知识产权代理事务所(普通合伙) 31286 | 代理人： | 黄海霞 |
| 地址： | 200434 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种DDR物理层地址命令路径的内建自测试方法，包括向地址命令路径发送测试向量，同时向时钟信号路径发送时钟信号；通过环回的时钟信号对环回的测试向量进行采样；将采样到的数据与向地址命令路径发送测试向量进行比较，以完成对DDR物理层地址命令路径的测试。所述DDR物理层地址命令路径的内建自测试方法中，向地址命令路径发送测试向量，同时向时钟信号路径发送时钟信号，通过环回的时钟信号对环回的测试向量进行采样，使得地址命令路径通路与数据通路在自测时用相同的路径，大大简化了设计的复杂度。本发明还提供了一种用于实现DDR物理层地址命令路径的内建自测试方法的测试系统。 | ||
| 搜索关键词： | ddr 物理层 地址 命令 路径 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
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