[发明专利]DDR物理层地址命令路径的内建自测试方法及测试系统

权利要求书

1.一种DDR物理层地址命令路径的内建自测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1：向地址命令路径发送测试向量，同时向时钟信号路径发送时钟信号，其中，所述测试向量和所述时钟信号均为并行数据；

S2：通过环回的时钟信号对环回的测试向量进行采样；

S3：将采样到的数据与向地址命令路径发送测试向量进行比较，以完成对DDR物理层地址命令路径的测试；

其中，所述步骤S1中，将所述测试向量转变为串行数据，然后进行延时传输，将所述时钟信号转变为串行数据，然后进行延时传输。

2.根据权利要求1所述的DDR物理层地址命令路径的内建自测试方法，其特征在于，所述步骤S2还包括，对所述环回的时钟信号和所述环回的测试向量进行延时传输。

3.根据权利要求1所述的DDR物理层地址命令路径的内建自测试方法，其特征在于，所述步骤S2中，所述环回的时钟信号通过时钟树生成至少两个子时钟信号，通过所述子时钟信号对至少两个环回的测试向量进行采样。

4.根据权利要求1或3所述的DDR物理层地址命令路径的内建自测试方法，其特征在于，所述步骤S2中，所述采样到的数据为串行数据，将所述采样到的数据转变为并行数据。

5.根据权利要求1所述的DDR物理层地址命令路径的内建自测试方法，其特征在于，还包括采样调试，所述采样调试包括以下步骤：

S1a：向地址命令路径发送测试向量的延时值设置为零；

S2a：将所述延时值不断增加阈值，直至通过环回的时钟信号对环回的测试向量采样成功，以得到最小延时值；

S3a：向地址命令路径发送测试向量的延时值设置为最大值；

S4a：将所述延时值不断减少阈值，直至通过环回的时钟信号对环回的测试向量采样成功，以得到最大延时值；

S5a：求取取所述最小延时值和所述最大延时值的平均值，然后将向地址命令路径发送测试向量的延时值设置为所述平均值。

6.一种测试系统，其特征在于，用于实现如权利要求1-5任意一项所述DDR物理层地址命令路径的内建自测试方法，所述测试系统包括发送模块、采样模块和对比模块，

所述发送模块用于向地址命令路径发送测试向量和向时钟信号路径发送时钟信号，其中，所述测试向量和所述时钟信号均为并行数据；

所述采样模块用于通过环回的时钟信号对环回的测试向量进行采样；

所述对比模块用于将采样到的数据与向地址命令路径发送测试向量进行比较。

7.根据权利要求6所述的测试系统，其特征在于，还包括第一数据转换模块和第一延时链，所述测试向量为并行数据，所述第一数据转换模块用于将所述测试向量转变为串行数据，所述第一延时链用于对转变为串行数据后的测试向量进行延时传输。

8.根据权利要求6所述的测试系统，其特征在于，还包括第二数据转换模块和第二延时链，所述时钟信号为并行数据，所述第二 数据转换模块用于将所述时钟信号转变为串行数据，所述第二延时链用于对转变为串行数据后的时钟信号进行延时传输。

9.根据权利要求6所述的测试系统，其特征在于，还包括第三延时链和第四延时链，所述第三延时链用于对所述环回的测试向量进行延时传输，所述第四延时链用于对所述环回的时钟信号进行延时传输。

10.根据权利要求6所述的测试系统，其特征在于，还包括时钟树，用于接收环回的时钟信号以生成至少两个子时钟信号。

11.根据权利要求6所述的测试系统，其特征在于，还包括第三数据转换模块，所述采样到的数据为串行数据，所述第三数据转换模块用于将所述采样到的数据转换成并行数据。