[发明专利]掉电时校验数据的方法、装置、存储介质及电子设备在审
申请号: | 202010742942.2 | 申请日: | 2020-07-29 |
公开(公告)号: | CN111897685A | 公开(公告)日: | 2020-11-06 |
发明(设计)人: | 孙成思;孙日欣;李振华;李家敏 | 申请(专利权)人: | 深圳佰维存储科技股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22 |
代理公司: | 深圳市博锐专利事务所 44275 | 代理人: | 郑昱 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区桃*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开一种掉电时校验数据的方法、装置、存储介质及电子设备,通过构建包含预设参数的写命令,并根据构建的写命令对待测试的硬盘盘片进行数据写入,并对写入成功的写命令对应的预设参数进行存储,预设参数包括起始逻辑区块地址、数据写入地址范围以及数据模型,在数据写入过程中,对待测试的硬盘盘片进行掉电并重新上电,重新上电后,根据存储的写命令对应的预设参数从待测试的硬盘盘片中读取数据并进行数据校验,根据验证结果能够统计出在掉电那一刻,哪些数据是写入成功,哪些数据是写入失败的,从而能够准确地验证硬盘盘片在意外掉电情况下的数据完整性,同时根据验证结果也能够验证硬盘盘片对数据重构的可靠性。 | ||
搜索关键词: | 掉电 校验 数据 方法 装置 存储 介质 电子设备 | ||
【主权项】:
暂无信息
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