[发明专利]掉电时校验数据的方法、装置、存储介质及电子设备在审

专利信息
申请号: 202010742942.2 申请日: 2020-07-29
公开(公告)号: CN111897685A 公开(公告)日: 2020-11-06
发明(设计)人: 孙成思;孙日欣;李振华;李家敏 申请(专利权)人: 深圳佰维存储科技股份有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22
代理公司: 深圳市博锐专利事务所 44275 代理人: 郑昱
地址: 518000 广东省深圳市南山区桃*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 掉电 校验 数据 方法 装置 存储 介质 电子设备
【权利要求书】:

1.一种掉电时校验数据的方法,其特征在于,包括步骤:

对待测试的硬盘盘片独立上电,当接收到所述待测试的硬盘盘片被成功识别的指令时,构建包含预设参数的写命令,所述预设参数包括起始逻辑区块地址、数据写入地址范围以及数据模型;

根据所述写命令对所述待测试的硬盘盘片进行数据写入,并对写入成功的写命令对应的预设参数进行存储;

在数据写入过程中,对所述待测试的硬盘盘片单独掉电;

对所述待测试的硬盘盘片重新独立上电,当接收到所述待测试的硬盘盘片被成功识别的指令时,根据所述存储的写命令对应的预设参数从所述待测试的硬盘盘片读取数据并进行数据校验。

2.根据权利要求1所述的一种掉电时校验数据的方法,其特征在于,所述写命令为IO写命令,并且通过并发执行所述IO写命令进行数据写入。

3.根据权利要求1所述的一种掉电时校验数据的方法,其特征在于,对所述待测试的硬盘盘片单独掉电和重新独立上电之间间隔预设时长,所述预设时长可动态设置。

4.根据权利要求1所述的一种掉电时校验数据的方法,其特征在于,所述在数据写入过程中,对所述待测试的硬盘盘片单独掉电包括:

在数据写入过程中,判断所述待测试的硬盘盘片是否支持掉电保护,若是,则对所述待测试的硬盘盘片单独掉电;

若否,则在对所述待测试的硬盘盘片单独掉电之前执行:

对所述待测试的硬盘盘片的cache进行刷盘,刷盘后对写入成功的写命令对应的预设参数不进行存储。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的一种掉电时校验数据的方法,其特征在于,根据所述写命令对所述待测试的硬盘盘片进行数据写入包括:

根据所述写命令和预设的扇区的数据格式对所述待测试的硬盘盘片对应的扇区进行数据写入;

所述根据所述存储的写命令对应的预设参数从所述待测试的硬盘盘片读取数据并进行数据校验包括:

根据所述存储的写命令对应的预设参数和所述预设的扇区的数据格式从所述待测试的硬盘盘片对应的扇区读取数据并进行数据校验。

6.根据权利要求5所述的一种掉电时校验数据的方法,其特征在于,不同扇区预设的数据格式不同。

7.根据权利要求1至4中任一项所述的一种掉电时校验数据的方法,其特征在于,所述根据所述存储的写命令对应的预设参数从所述待测试的硬盘盘片读取数据并进行数据校验包括:

根据所述存储的写命令对应的起始逻辑区块地址和数据写入地址范围从所述待测试的硬盘盘片对应的区域读取数据,将读取的数据与所述数据模型进行比较,判断写入的数据与读取的数据是否一致。

8.一种掉电时校验数据的装置,其特征在于,包括:

上电模块,用于对待测试的硬盘盘片独立上电;

命令构建模块,用于在所述上电模块对待测试的硬盘盘片独立上电后,当接收到所述待测试的硬盘盘片被成功识别的指令时,构建包含预设参数的写命令,所述预设参数包括起始逻辑区块地址、数据写入地址范围以及数据模型;

数据写入模块,用于根据所述写命令对所述待测试的硬盘盘片进行数据写入,并对写入成功的写命令对应的预设参数进行存储;

掉电模块,用于在数据写入过程中,对所述待测试的硬盘盘片单独掉电;

数据读取模块,用于在所述上电模块对所述待测试的硬盘盘片重新独立上电后,当接收到所述待测试的硬盘盘片被成功识别的指令时,根据所述存储的写命令对应的预设参数从所述待测试的硬盘盘片读取数据并进行数据校验。

9.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于:所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-7任意一项所述的一种掉电时校验数据的方法中的各个步骤。

10.一种电子设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-7任意一项所述的一种掉电时校验数据的方法中的各个步骤。

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