[发明专利]掉电时校验数据的方法、装置、存储介质及电子设备

说明书

本发明公开一种掉电时校验数据的方法、装置、存储介质及电子设备，通过构建包含预设参数的写命令，并根据构建的写命令对待测试的硬盘盘片进行数据写入，并对写入成功的写命令对应的预设参数进行存储，预设参数包括起始逻辑区块地址、数据写入地址范围以及数据模型，在数据写入过程中，对待测试的硬盘盘片进行掉电并重新上电，重新上电后，根据存储的写命令对应的预设参数从待测试的硬盘盘片中读取数据并进行数据校验，根据验证结果能够统计出在掉电那一刻，哪些数据是写入成功，哪些数据是写入失败的，从而能够准确地验证硬盘盘片在意外掉电情况下的数据完整性，同时根据验证结果也能够验证硬盘盘片对数据重构的可靠性。

技术领域

本发明涉及硬盘测试领域，尤其涉及一种掉电时校验数据的方法、装置、存储介质及电子设备。

背景技术

在SSD(Solid State Disk，固态硬盘)盘片测试过程中，会做针对性的可靠性测试，其中，异常电源丢失验证盘片的可靠性是其中之一。大多数硬盘的一致性验证仅仅对盘片处于正常状态、电源稳定的情况下先写后读的方式验证数据的完整性。但是，固态硬盘在实际使用过程中，难免会遇到正在读写IO的过程中，盘片电源突然发生闪断或完全掉电的情况，此时就需要SSD在这种极端情况下对盘上数据做到保护。由于SSD固件架构和Cache特性，此时一部分数据已写入后端的Nand Flash，另一部分数据在Cache中或正在处理过程中，未写入Nand Flash。那么对于SSD宣称不支持掉电保护的，需要保证已写入Nand Flash的数据的一致性，对于SSD宣称支持掉电保护的，需要保证所有主机收到成功的命令的数据都应该保持一致。然而，现有技术中鲜少有对于异常电源下固态硬盘的测试。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是：提供一种掉电时校验数据的方法、装置、存储介质及电子设备，能够验证盘片在意外掉电情况下的数据完整性。

为了解决上述技术问题，本发明采用的一种技术方案为：

一种掉电时校验数据的方法，包括步骤：

对待测试的硬盘盘片独立上电，当接收到所述待测试的硬盘盘片被成功识别的指令时，构建包含预设参数的写命令，所述预设参数包括起始逻辑区块地址、数据写入地址范围以及数据模型；

根据所述写命令对所述待测试的硬盘盘片进行数据写入，并对写入成功的写命令对应的预设参数进行存储；

在数据写入过程中，对所述待测试的硬盘盘片单独掉电；

对所述待测试的硬盘盘片重新独立上电，当接收到所述待测试的硬盘盘片被成功识别的指令时，根据所述存储的写命令对应的预设参数从所述待测试的硬盘盘片读取数据并进行数据校验。

为了解决上述技术问题，本发明采用的另一种技术方案为：

一种掉电时校验数据的装置，包括：

上电模块，用于对待测试的硬盘盘片独立上电；

命令构建模块，用于在所述上电模块对待测试的硬盘盘片独立上电后，当接收到所述待测试的硬盘盘片被成功识别的指令时，构建包含预设参数的写命令，所述预设参数包括起始逻辑区块地址、数据写入地址范围以及数据模型；

数据写入模块，用于根据所述写命令对所述待测试的硬盘盘片进行数据写入，并对写入成功的写命令对应的预设参数进行存储；

掉电模块，用于在数据写入过程中，对所述待测试的硬盘盘片单独掉电；

数据读取模块，用于在所述上电模块对所述待测试的硬盘盘片重新独立上电后，当接收到所述待测试的硬盘盘片被成功识别的指令时，根据所述存储的写命令对应的预设参数从所述待测试的硬盘盘片读取数据并进行数据校验。

为了解决上述技术问题，本发明采用的另一种技术方案为：