[发明专利]测量装置、测量系统及存储介质在审
| 申请号： | 202010622686.3 | 申请日： | 2020-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN112179268A | 公开（公告）日： | 2021-01-05 |
| 发明（设计）人： | 石下雅史;宍户裕子 | 申请（专利权）人： | 株式会社三丰 |
| 主分类号： | G01B9/02 | 分类号： | G01B9/02;G01B11/24 |
| 代理公司： | 北京汇思诚业知识产权代理有限公司 11444 | 代理人： | 张黎;王刚 |
| 地址： | 日本国神奈川县*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种测量装置，包含：存储部，其存储有用于从基于干涉而出现的颜色对与白光的干涉相关的2个光路的光路差进行测量的信息；以及运算部，其从由分别包含表示颜色的信息的多个像素构成的图像，至少根据存储于存储部的信息来测量与各像素相关的光路差。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 装置 系统 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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