[发明专利]一种Fin沟道结构SiC场效应晶体管器件在审

专利信息
申请号: 202010472711.4 申请日: 2020-05-29
公开(公告)号: CN111627987A 公开(公告)日: 2020-09-04
发明(设计)人: 倪炜江;徐妙玲;李明山;李百泉;李天运;孙安信 申请(专利权)人: 东莞南方半导体科技有限公司;北京世纪金光半导体有限公司
主分类号: H01L29/10 分类号: H01L29/10;H01L29/78
代理公司: 北京邦创至诚知识产权代理事务所(普通合伙) 11717 代理人: 张宇锋
地址: 523808 广东省东莞*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供了一种Fin沟道结构SiC场效应晶体管器件,该器件从下到上依次为包括n+SiC衬底,n‑漂移层,p阱区,p+区,n+区,以及在器件表面上的栅介质,栅极、源极和底部的漏极,在器件的沟道部分设置有周期性排列的台面,形成Fin台面结构;此外,在所述台面上、台面下以及台面的两个侧壁均设置MOS沟道。本发明通过设置Fin台面结构,使SiC场效应晶体管的沟道密度显著增加,即在保持原胞尺寸和原胞密度不变的前提下,单位芯片面积的沟道宽度显著增加,有效降低了器件的沟道电阻。使整个器件的导通电阻可以得到很大的减少。
搜索关键词: 一种 fin 沟道 结构 sic 场效应 晶体管 器件
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