[发明专利]一种用于检测LCD液晶屏缺陷的分区检验方法在审
| 申请号： | 202010404334.0 | 申请日： | 2020-05-13 |
| 公开（公告）号： | CN111522157A | 公开（公告）日： | 2020-08-11 |
| 发明（设计）人： | 华卫华;朱庆华;黄双平 | 申请（专利权）人： | 深圳市全洲自动化设备有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384 | 代理人： | 彭西洋;梁炎芳 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙华区大浪街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开一种用于检测LCD液晶屏缺陷的分区检验方法，包括以下步骤：步骤S1，根据具体产品预设检测参数，其中，检测参数包括区域划分和与区域划分相配合的精度参数；步骤S2，将产品放置于检测台上，并启动检测；步骤S3，待产品移送到位后，根据拍摄参数采集产品的图像；步骤S4，根据检测参数对获得的图像进行检测；步骤S5，输出检测结果；步骤S6，根据检测结果分拣产品。本发明通过分区检测，实现根据产品的具体检测需求提升或降低产品不同区域的检测精度要求，能有效避免漏检和误检，还可通过设定不检测区来避免外部遮挡干扰，检测更加灵活，提高了检测的准确度，检测效果好。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 检测 lcd 液晶屏 缺陷 分区 检验 方法 | ||
【主权项】：
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