[发明专利]一种用于检测LCD液晶屏缺陷的分区检验方法在审

专利信息
申请号: 202010404334.0 申请日: 2020-05-13
公开(公告)号: CN111522157A 公开(公告)日: 2020-08-11
发明(设计)人: 华卫华;朱庆华;黄双平 申请(专利权)人: 深圳市全洲自动化设备有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13
代理公司: 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384 代理人: 彭西洋;梁炎芳
地址: 518000 广东省深圳市龙华区大浪街*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 检测 lcd 液晶屏 缺陷 分区 检验 方法
【说明书】:

发明公开一种用于检测LCD液晶屏缺陷的分区检验方法,包括以下步骤:步骤S1,根据具体产品预设检测参数,其中,检测参数包括区域划分和与区域划分相配合的精度参数;步骤S2,将产品放置于检测台上,并启动检测;步骤S3,待产品移送到位后,根据拍摄参数采集产品的图像;步骤S4,根据检测参数对获得的图像进行检测;步骤S5,输出检测结果;步骤S6,根据检测结果分拣产品。本发明通过分区检测,实现根据产品的具体检测需求提升或降低产品不同区域的检测精度要求,能有效避免漏检和误检,还可通过设定不检测区来避免外部遮挡干扰,检测更加灵活,提高了检测的准确度,检测效果好。

技术领域

本发明涉及LCD液晶屏检测技术领域,尤其涉及一种用于检测LCD液晶屏缺陷的分区检验方法。

背景技术

目前,LCD液晶屏行业检测LCD液晶屏缺陷的方法是按照一定的精度拍摄LCD液晶屏表面的图像,然后对图像进行分析检测,从而发现不属于LCD液晶屏正常显示的多画、缺画及黑白点等缺陷。由于产品质量标准允许小于一定尺度的不良,或者图像分析过程中需要过滤掉拍摄产生的部分细微图像噪点,所以行业内通常在检测时会设定一个精度值,根据设定的精度值忽略掉这个数值以下尺度的不良情况;但是,设定的精度值过大则容易产生漏检,设定的精度值过小则容易产生品质过剩,因此,需要行业根据具体产品调整精度值,还存在以下问题:

1、同一批产品拍摄的图像中,有些小尺度缺陷在设定的精度值以下,但是因为这个局部区域的显示内容比较细小,导致这些小尺度缺陷能明显的影响显示效果,忽略这些小尺度缺陷会对产品的品质造成较大的影响;

2、同一批产品拍摄的图像中,有些缺陷在设定的精度值以上,能够被检测出来,但是因为这个局部区域的显示内容比较粗大,这些缺陷对局部的显示效果影响不大,是被允许的不良情况,报告缺陷是不必要的;

3、拍摄图像时,LCD玻璃表面可能带有丝印图案或外部异物,其位置和形状偏差远远超过LCD内部图案的质量标准,这样的局部区域通常不由AOI设备进行检测,以免频繁误判影响检测效率。

因此,现有技术存在缺陷,需要改进。

发明内容

本发明的目的是克服现有技术的不足,提供一种用于检测LCD液晶屏缺陷的分区检验方法。

本发明的技术方案如下:

一种用于检测LCD液晶屏缺陷的分区检验方法,包括以下步骤:

步骤S1,根据具体产品预设检测参数,其中,检测参数包括区域划分和与区域划分相配合的精度参数;

步骤S2,将产品放置于检测台上,并启动检测;

其中,检测台包括与一计算机相连接的皮带式传送机构,所述皮带式传送机构沿其运行方向依次设置有上料工位、检测工位和下料工位;所述上料工位设置有上料机构,所述上料机构与所述计算机相连接,用于上料;所述检测工位设置有检测机构,所述检测机构与所述计算机相连接,用于定位采集产品的图像;所述下料工位设置有下料机构,所述下料机构与所述计算机相连接,用于分拣产品;

步骤S3,待产品移送到位后,启动检测机构按拍摄参数拍摄产品的图像;

步骤S4,根据检测参数对获得的图像进行检测;

步骤S5,输出检测结果;

步骤S6,根据检测结果分拣产品。

进一步地,步骤S1中所述的区域划分的实现方式是通过计算机以一个良品的图像作为模板预先设定好当前所要检测产品的高精度区、中精度区、低精度区以及不检测区。

进一步地,步骤S1中所述的精度参数包括与高精度区相配合的第一精度参数,与中精度区相配合的第二精度参数,以及与低精度区相配合的第三精度参数。

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