[发明专利]一种用于检测LCD液晶屏缺陷的分区检验方法在审

专利信息
申请号: 202010404334.0 申请日: 2020-05-13
公开(公告)号: CN111522157A 公开(公告)日: 2020-08-11
发明(设计)人: 华卫华;朱庆华;黄双平 申请(专利权)人: 深圳市全洲自动化设备有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13
代理公司: 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384 代理人: 彭西洋;梁炎芳
地址: 518000 广东省深圳市龙华区大浪街*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 检测 lcd 液晶屏 缺陷 分区 检验 方法
【权利要求书】:

1.一种用于检测LCD液晶屏缺陷的分区检验方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤S1,根据具体产品预设检测参数,其中,检测参数包括区域划分和与区域划分相配合的精度参数;

步骤S2,将产品放置于检测台上,并启动检测;

其中,检测台包括与一计算机相连接的皮带式传送机构,所述皮带式传送机构沿其运行方向依次设置有上料工位、检测工位和下料工位;所述上料工位设置有上料机构,所述上料机构与所述计算机相连接,用于上料;所述检测工位设置有检测机构,所述检测机构与所述计算机相连接,用于定位采集产品的图像;所述下料工位设置有下料机构,所述下料机构与所述计算机相连接,用于分拣产品;

步骤S3,待产品移送到位后,启动检测机构按拍摄参数拍摄产品的图像;

步骤S4,根据检测参数对获得的图像进行检测;

步骤S5,输出检测结果;

步骤S6,根据检测结果分拣产品。

2.根据权利要求1所述的用于检测LCD液晶屏缺陷的分区检验方法,其特征在于,步骤S1中所述的区域划分的实现方式是通过计算机以一个良品的图像作为模板预先设定好当前所要检测产品的高精度区、中精度区、低精度区以及不检测区。

3.根据权利要求2所述的用于检测LCD液晶屏缺陷的分区检验方法,其特征在于,步骤S1中所述的精度参数包括与高精度区相配合的第一精度参数,与中精度区相配合的第二精度参数,以及与低精度区相配合的第三精度参数。

4.根据权利要求3所述的用于检测LCD液晶屏缺陷的分区检验方法,其特征在于,步骤S2中所述的检测机构包括沿所述皮带式传送机构的运行方向依次设置的一位置传感器和一定位机械手,于所述定位机械手上方设置的相机和光源,所述位置传感器、定位机械手、相机和光源分别与所述计算机相连接,所述位置传感器用于实时检测产品是否到位,所述定位机械手用于定位抓取产品,所述相机用于采集产品的图像。

5.根据权利要求4所述的用于检测LCD液晶屏缺陷的分区检验方法,其特征在于,步骤S3的实现方式是通过皮带式传送机构将产品移送到检测工位,由位置传感器检测产品是否到位,并通过定位机械手定位夹持住产品,再通过相机根据拍摄参数进行产品的拍摄;

其中,拍摄参数是指拍摄次数,拍摄参数的取值范围在1次~10次之间。

6.根据权利要求5所述的用于检测LCD液晶屏缺陷的分区检验方法,其特征在于,步骤S4的实现方式是计算机通过相机的SDK接口实时抓取相机拍摄的图像,并根据区域划分和精度参数对获得的每个图像分别进行分区检测,每个区域均采用与之相配合的精度参数;

其中,分区检测是指计算机根据模板与获得的图像逐区进行匹配,查找有无缺陷,并根据每个区域对应的精度参数判断缺陷是否属于被允许的不良情况。

7.根据权利要求1所述的用于检测LCD液晶屏缺陷的分区检验方法,其特征在于,步骤S5的实现方式是通过计算机输出检测结果,包括良品检测结果和不良品检测结果。

8.根据权利要求1所述的用于检测LCD液晶屏缺陷的分区检验方法,其特征在于,步骤S6的实现方式是计算机根据检测结果控制下料机构将产品分拣到良品分拣处或不良品分拣处。

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