[发明专利]控制易失性存储器装置的修复的方法和存储装置在审
| 申请号： | 202010401661.0 | 申请日： | 2020-05-13 |
| 公开（公告）号： | CN112306737A | 公开（公告）日： | 2021-02-02 |
| 发明（设计）人： | 金东;朴仁勋;朴章善;殷亨来 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G06F11/10 | 分类号： | G06F11/10;G11C29/42 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 史泉;张川绪 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供了控制易失性存储器装置的修复的方法和存储装置。所述方法包括：重复地执行巡检读取操作，以提供包括在来自易失性存储器装置的读取数据中的错误的错误位置信息；通过累积基于重复地执行的巡检读取操作的错误位置信息来生成累积错误信息；基于累积错误信息确认错误属性，错误属性指示错误与易失性存储器装置的结构之间的相关性；以及基于累积错误信息和错误属性针对易失性存储器装置执行运行时间修复操作。可以有效地管理错误，以防止易失性存储器装置的故障，因此可以提高易失性存储器装置和存储装置的性能和寿命。 | ||
| 搜索关键词： | 控制 易失性 存储器 装置 修复 方法 存储 | ||
【主权项】：
暂无信息
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