[发明专利]控制易失性存储器装置的修复的方法和存储装置在审
| 申请号: | 202010401661.0 | 申请日: | 2020-05-13 |
| 公开(公告)号: | CN112306737A | 公开(公告)日: | 2021-02-02 |
| 发明(设计)人: | 金东;朴仁勋;朴章善;殷亨来 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
| 主分类号: | G06F11/10 | 分类号: | G06F11/10;G11C29/42 |
| 代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 史泉;张川绪 |
| 地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 控制 易失性 存储器 装置 修复 方法 存储 | ||
1.一种控制易失性存储器装置的修复的方法,所述方法包括:
重复地执行巡检读取操作,以确认包括在来自易失性存储器装置的读取数据中的一个或多个错误的错误位置信息;
通过累积基于重复地执行的巡检读取操作的错误位置信息来获取累积错误信息;
基于累积错误信息确认错误属性信息,错误属性信息指示包括在读取数据中的所述一个或多个错误与易失性存储器装置的结构之间的相关性;以及
基于累积错误信息和错误属性信息针对易失性存储器装置执行运行时间修复操作。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,获取累积错误信息的步骤包括:
将易失性存储器装置的全部行地址之中的具有可校正错误的一个或多个候选失效行地址以及分别与所述一个或多个候选失效行地址中的每个对应的可校正错误数作为累积错误信息存储在累积错误表中,可校正错误数中的每个指示对应的候选失效行地址中的错误的数量。
3.根据权利要求2所述的方法,其中,执行运行时间修复操作的步骤包括:
针对所述一个或多个候选失效行地址之中的具有大于参考错误数的可校正错误数的候选失效行地址执行封装后修复操作。
4.根据权利要求2所述的方法,其中,执行巡检读取操作的步骤包括:
针对易失性存储器装置的全部行地址顺序地执行全扫描读取操作;以及
针对所述一个或多个候选失效行地址顺序地执行深度扫描读取操作。
5.根据权利要求4所述的方法,其中,在执行一次全扫描读取操作的同时,执行两次或更多次深度扫描读取操作。
6.根据权利要求2所述的方法,其中,获取累积错误信息的步骤还包括:
基于错误属性信息将地址组存储在累积错误表中,地址组包括与候选失效行地址具有相同的与易失性存储器装置的结构的相关性的行地址。
7.根据权利要求6所述的方法,其中,执行运行时间修复操作的步骤包括:
当地址组的可校正错误数之和大于风险错误数时,针对包括在地址组中的所有行地址执行封装后修复操作。
8.根据权利要求6所述的方法,其中,确认错误属性信息的步骤包括:
当包括在包括与易失性存储器装置的主字线对应的多条子字线的行地址的地址组中的所述一个或多个候选失效行地址的数量大于参考数量时,针对所述地址组获取主地址错误属性信息。
9.根据权利要求6所述的方法,其中,确认错误属性信息的步骤包括:
当与包括在包括与易失性存储器装置的主字线对应的多条子字线的行地址的地址组中的所有行地址对应的可校正错误数之和大于参考数量时,针对所述地址组获取主地址错误属性信息。
10.根据权利要求2所述的方法,其中,获取累积错误信息的步骤还包括:
针对所述一个或多个候选失效行地址中的每个将具有可校正错误的一个或多个候选失效列地址存储在累积错误表中。
11.根据权利要求10所述的方法,其中,确认错误属性信息的步骤包括:
当包括同一候选失效列地址的所述一个或多个候选失效行地址的数量大于参考数量时,针对所述同一候选失效列地址获取列错误属性信息。
12.根据权利要求11所述的方法,其中,执行运行时间修复操作的步骤包括:
针对被确认为列错误属性信息的候选失效列地址中的每个执行封装后修复操作。
13.根据权利要求2所述的方法,还包括:
当执行访问写入操作以将写入数据存储到候选失效行地址时,执行副本写入操作以将写入数据额外地存储到与候选失效行地址对应的副本行地址;以及
当从候选失效行地址读取的数据包括不可校正错误时,提供从副本行地址读取的数据而不是从候选失效行地址读取的数据。
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