[发明专利]具有低泄漏特性器件的动态存储器及阵列电路有效

专利信息
申请号: 202010392133.3 申请日: 2020-05-11
公开(公告)号: CN111627476B 公开(公告)日: 2022-08-19
发明(设计)人: 李学清;钟宏涛;杨华中;曹胜杰 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G11C11/406 分类号: G11C11/406;G11C11/409
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 石茵汀
地址: 10008*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种具有低泄漏特性器件的动态存储器及阵列电路,其中,动态存储器包括:写操作模块包括控制端、输入端和输出端,写操作模块由具有低泄漏特性的纳米机电继电器组成,以利用其低泄漏特点延长动态存储器的保持时间。写操作模块与信息存储模块的写操作端连接,用于对信息存储模块所存储的信息进行写操作;读操作模块包括控制端、输入端和输出端,读操作模块与信息存储模块的读操作端连接,用于对信息存储模块内的状态信息进行读操作;信息存储模块包括写操作端和读操作端。由此,提高了动态存储器的数据无损保持时间,从而降低了动态存储器的刷新功耗,是一类漏电小、功耗低的动态存储器。
搜索关键词: 具有 泄漏 特性 器件 动态 存储器 阵列 电路
【主权项】:
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