[发明专利]一种ATE测试不良分析系统在审
| 申请号： | 202010324545.3 | 申请日： | 2020-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN113553318A | 公开（公告）日： | 2021-10-26 |
| 发明（设计）人： | 吴嘉伟;付顺金;钱院生 | 申请（专利权）人： | 海太半导体（无锡）有限公司 |
| 主分类号： | G06F16/215 | 分类号： | G06F16/215;G06F16/25;G06Q10/06 |
| 代理公司： | 无锡市朗高知识产权代理有限公司 32262 | 代理人： | 赵华 |
| 地址： | 214000 江苏省无锡*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种ATE测试不良分析系统，包括数据库、数据导入模块、数据重构模块、时效性模块、累积性模块、中央处理器模块和电源模块；所述数据导入模块的输入端和输出端分别电连接数据库和数据重构模块，所述数据重构模块的输出端电连接至时效性模块和累积性模块，所述时效性模块和累积性模块的输出端通过电连接连接至反馈模块；所述反馈模块的输出端电连接有中央处理器模块，所述中央处理器模块的输出端电连接有显示模块和报警模块。本发明功能性强，效率高，准确性高，数据需求覆盖率广。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 ate 测试 不良 分析 系统 | ||
【主权项】：
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