[发明专利]一种ATE测试不良分析系统在审
| 申请号： | 202010324545.3 | 申请日： | 2020-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN113553318A | 公开（公告）日： | 2021-10-26 |
| 发明（设计）人： | 吴嘉伟;付顺金;钱院生 | 申请（专利权）人： | 海太半导体（无锡）有限公司 |
| 主分类号： | G06F16/215 | 分类号： | G06F16/215;G06F16/25;G06Q10/06 |
| 代理公司： | 无锡市朗高知识产权代理有限公司 32262 | 代理人： | 赵华 |
| 地址： | 214000 江苏省无锡*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 ate 测试 不良 分析 系统 | ||
1.一种ATE测试不良分析系统，其特征在于，包括数据库、数据导入模块、数据重构模块、时效性模块、累积性模块、中央处理器模块和电源模块；
所述数据导入模块的输入端和输出端分别电连接数据库和数据重构模块，所述数据重构模块的输出端电连接至时效性模块和累积性模块，所述时效性模块和累积性模块的输出端通过电连接连接至反馈模块；
所述反馈模块的输出端电连接有中央处理器模块，所述中央处理器模块的输出端电连接有显示模块和报警模块。
2.根据权利要求1所述的ATE测试不良分析系统，其特征在于：所述数据库接收来自完成测试后的数据，数据通过自动化OS将其上传到数据库。
3.根据权利要求2所述的ATE测试不良分析系统，其特征在于：所述数据导入模块采用工程师站EWS。
4.根据权利要求3所述的ATE测试不良分析系统，其特征在于：所述数据导入模块和数据重构模块之间还设置有需求模块。
5.根据权利要求4所述的ATE测试不良分析系统，其特征在于：所述时效性模块包括快速分析系统和警告系统，所述快速分析系统响应领导临时需求，所述警告系统及时发现不良。
6.根据权利要求5所述的ATE测试不良分析系统，其特征在于：所述警告系统通过中央处理模块电连接至报警模块。
7.根据权利要求6所述的ATE测试不良分析系统，其特征在于：所述累积性模块包括KPI趋势管理模块和长期变化趋势模块，所述长期变化趋势模块输出六西格玛管理因子。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于海太半导体（无锡）有限公司，未经海太半导体（无锡）有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010324545.3/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种基于大数据的品质分析系统
- 下一篇：一种监控基板弯曲的系统
