[发明专利]一种ATE测试不良分析系统

说明书

本发明提供一种ATE测试不良分析系统，包括数据库、数据导入模块、数据重构模块、时效性模块、累积性模块、中央处理器模块和电源模块；所述数据导入模块的输入端和输出端分别电连接数据库和数据重构模块，所述数据重构模块的输出端电连接至时效性模块和累积性模块，所述时效性模块和累积性模块的输出端通过电连接连接至反馈模块；所述反馈模块的输出端电连接有中央处理器模块，所述中央处理器模块的输出端电连接有显示模块和报警模块。本发明功能性强，效率高，准确性高，数据需求覆盖率广。

技术领域

本发明主要涉及晶元检测领域，尤其涉及一种ATE测试不良分析系统。

背景技术

ATE Final TEST测试会用大批量同时测试的方式进行，这样可以大大降低产品的测试周期。然后把测试结果分成多种(各公司定义)不同的bin加以区分，每个bin代表着产品的主要特性，加以归类，测试bin的定义由测试程序端定义。测试结果就是将这些bin进行汇总统计，然后工程师对关键bin进行不断分析改良，从而实现让测试输出满足设计要求，不断提高产品质量的过程，最终达到让客户满意。

由于当今半导体的产能巨大，对于天别百万级别及其以上的数量，工程师要快速获得大批量数据本身就比较困难，而公司电算系统为了防止奔溃对数据访问都会加以限制，生成局限及通用的报表，这些大数据被挖掘的可用性大打折扣。

在抓取到了数据后，对数据的逻辑性验证更是较为困难，除了依靠强大的服务器处理，一遍又一遍的让大量数据在尝试逻辑中试运行，费时费力，效率非常低下；

再者，非产品人员也缺少特征数据的敏感性，IT不能替代产品工程师的作业，逻辑层需要兼备IT知识与测试知识者才能完成不良的分析工作。

已公开中国发明专利，申请号CN201210325269.8，专利名称：ATE测试结果判断方法及ATE测试方法，申请日：2012-09-05，本发明涉及一种ATE测试结果判断方法及ATE测试方法。根据本发明的基于读取信号输出状态的ATE测试结果判断方法包括：第一步骤：启动测试；第二步骤：执行特定信号预期输出修改；第三步骤：执行测试输出信号的波形与预期波形的比较；第四步骤：记录特定信号的失效节拍；第五步骤：对记录的失效测试数据进行处理；第六步骤：获取特定信号预期码流；第七步骤：将特定信号的码流信息与预期码流进行比较；第八步骤：将其它的输出信号的输出波形与预期波形进行比较。ATE测试结果判断方法还包括第九步骤：根据特定信号输出码流与预期码流的比较结果、以及其它信号输出波形与预期波形的比较结果，得到详细的测试分类信息输出。

发明内容

针对现有技术的上述缺陷，本发明提供一种ATE测试不良分析系统，包括数据库、数据导入模块、数据重构模块、时效性模块、累积性模块、中央处理器模块和电源模块；

所述数据导入模块的输入端和输出端分别电连接数据库和数据重构模块，所述数据重构模块的输出端电连接至时效性模块和累积性模块，所述时效性模块和累积性模块的输出端通过电连接连接至反馈模块；

所述反馈模块的输出端电连接有中央处理器模块，所述中央处理器模块的输出端电连接有显示模块和报警模块。

优选的，数据库接收来自完成测试后的数据，数据通过自动化OS将其上传到数据库。

优选的，数据导入模块采用工程师站EWS。

优选的，数据导入模块和数据重构模块之间还设置有需求模块。

优选的，时效性模块包括快速分析系统和警告系统，所述快速分析系统响应领导临时需求，所述警告系统及时发现不良。

优选的，警告系统通过中央处理模块电连接至报警模块。

优选的，累积性模块包括KPI趋势管理模块和长期变化趋势模块，所述长期变化趋势模块输出六西格玛管理因子。