[发明专利]一种测量液晶器件实际反射率的方法与装置有效
| 申请号： | 202010285756.0 | 申请日： | 2020-04-13 |
| 公开（公告）号： | CN111366561B | 公开（公告）日： | 2023-01-06 |
| 发明（设计）人： | 杨海宁;初大平 | 申请（专利权）人： | 剑桥大学南京科技创新中心有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/55 | 分类号： | G01N21/55 |
| 代理公司： | 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 | 代理人： | 陈建和 |
| 地址： | 210000 江苏省南京*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 一种基于相干原理的液晶器件反射率测量装置，包括光源、分束器、光强度探测器、装置反射镜与待测量器件；光源、分束器、光强度探测器、装置反射镜与待测量器件组成如下光路，光源经过分束器入射至液晶器件，分束器的另一束光经装置反射镜与经液晶器件的反射光再次经过分束器后被光强度探测器测量，所述光源为宽频光源。本发明从装置到方法上给出了对现有的一种测量反射式液晶器件反射率的方法的改进。采用具有一定波长分布的光源经过分束器入射至液晶器件，经反射光再次经过分束器后被光强度探测器测量并经傅氏变换，能准确和方便推导出探测液晶器件各反射层的准确的反射率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 液晶 器件 实际 反射率 方法 装置 | ||
【主权项】：
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