[发明专利]相位误差探测方法、装置、磁共振系统及其成像方法有效
| 申请号: | 202010258142.3 | 申请日: | 2020-04-03 |
| 公开(公告)号: | CN113495242B | 公开(公告)日: | 2022-12-20 |
| 发明(设计)人: | 温林飞 | 申请(专利权)人: | 上海联影医疗科技股份有限公司 |
| 主分类号: | G01R33/565 | 分类号: | G01R33/565;G01R33/48 |
| 代理公司: | 北京华进京联知识产权代理有限公司 11606 | 代理人: | 张书涛 |
| 地址: | 201807 *** | 国省代码: | 上海;31 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 本申请涉及一种相位误差探测方法、装置、磁共振系统及其成像方法。所述相位误差探测方法包括:对检测对象施加第一测试序列,以获取第一相位信息,所述第一测试序列包括待测试梯度模块和射频脉冲,所述待测试梯度模块包括至少两个极性相反的梯度单元,其中,正向的梯度单元伴随射频脉冲;对所述检测对象施加第二测试序列,以获取第二相位信息,所述第二测试序列包括所述待测试梯度模块和射频脉冲,其中,负向的梯度单元伴随射频脉冲;根据所述第一相位信息和所述第二相位信息,计算所述待测试梯度模块对应的相位误差。本申请提供一种新的相位误差探测方法,能够准确探测涡流相位误差。 | ||
| 搜索关键词: | 相位 误差 探测 方法 装置 磁共振 系统 及其 成像 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海联影医疗科技股份有限公司,未经上海联影医疗科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010258142.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。





