[发明专利]相位误差探测方法、装置、磁共振系统及其成像方法

权利要求书

1.一种相位误差探测方法，所述方法包括：

对检测对象施加第一测试序列，以获取第一相位信息，所述第一测试序列包括待测试梯度模块和射频脉冲，所述待测试梯度模块包括至少两个极性相反的梯度单元，其中，正向的梯度单元伴随射频脉冲；

对所述检测对象施加第二测试序列，以获取第二相位信息，所述第二测试序列包括所述待测试梯度模块和射频脉冲，其中，负向的梯度单元伴随射频脉冲；所述第一测试序列和所述第二测试序列中包含相同的待测试梯度模块；

根据所述第一相位信息和所述第二相位信息，计算所述待测试梯度模块对应的相位误差。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测试梯度模块中，每个所述梯度单元的形状和面积相同，所述第一测试序列中，任一个正向的所述梯度单元伴随射频脉冲，所述根据所述第一相位信息和所述第二相位信息，计算所述待测试梯度模块对应的相位误差，包括：

根据所述第一相位信息和所述第二相位信息，计算所述待测试梯度模块中一个梯度单元对应的相位误差。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一测试序列和所述第二测试序列中，射频脉冲分别伴随于所述待测试梯度模块的两个相邻的梯度单元。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一测试序列中，所有正向的所述梯度单元伴随射频脉冲，所述根据所述第一相位信息和所述第二相位信息，计算所述待测试梯度模块对应的相位误差，包括：

根据所述第一相位信息和所述第二相位信息，计算所述待测试梯度模块中所有正向梯度单元和负向梯度单元对应的相位误差。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

根据计算得到的所述待测试梯度模块对应的相位误差，优化成像扫描中的梯度脉冲参数或者射频脉冲参数。

6.一种相位误差探测装置，其特征在于，所述装置包括：

第一测试模块，用于对检测对象施加第一测试序列，以获取第一相位信息，所述第一测试序列包括待测试梯度模块和射频脉冲，所述待测试梯度模块包括至少两个极性相反的梯度单元，其中，正向的梯度单元伴随射频脉冲；

第二测试模块，用于对所述检测对象施加第二测试序列，以获取第二相位信息，所述第二测试序列包括所述待测试梯度模块和射频脉冲，其中，负向的梯度单元伴随射频脉冲；所述第一测试序列和所述第二测试序列中包含相同的待测试梯度模块；

误差确定模块，用于根据所述第一相位信息和所述第二相位信息，计算所述待测试梯度模块对应的相位误差。

7.一种磁共振系统，包括：

磁共振扫描仪，其包括梯度线圈和射频发射线圈；

存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时控制所述磁共振扫描仪实现：

获取第一相位信息，所述第一相位信息为对检测对象施加第一测试序列获得，所述第一测试序列包括由所述梯度线圈发出正向的梯度单元和所述射频发射线圈发出的伴随的射频脉冲；

获取第二相位信息，所述第二相位信息为对检测对象施加第二测试序列获得，所述第二测试序列包括由所述梯度线圈发出的负向的梯度单元和所述射频发射线圈发出的伴随的射频脉冲；所述第一测试序列和所述第二测试序列中包含相同的待测试梯度模块；

根据所述第一相位信息和所述第二相位信息，计算所述梯度线圈对应的相位误差；以及

根据所述相位误差优化成像扫描中的梯度脉冲参数或者射频脉冲参数。

8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时控制所述磁共振扫描仪实现：

根据优化后的梯度脉冲参数，由所述梯度线圈形成梯度场；或/和

根据优化后的射频脉冲参数，由所述射频发射线圈形成射频场。