[发明专利]相位误差探测方法、装置、磁共振系统及其成像方法

说明书

本申请涉及一种相位误差探测方法、装置、磁共振系统及其成像方法。所述相位误差探测方法包括：对检测对象施加第一测试序列，以获取第一相位信息，所述第一测试序列包括待测试梯度模块和射频脉冲，所述待测试梯度模块包括至少两个极性相反的梯度单元，其中，正向的梯度单元伴随射频脉冲；对所述检测对象施加第二测试序列，以获取第二相位信息，所述第二测试序列包括所述待测试梯度模块和射频脉冲，其中，负向的梯度单元伴随射频脉冲；根据所述第一相位信息和所述第二相位信息，计算所述待测试梯度模块对应的相位误差。本申请提供一种新的相位误差探测方法，能够准确探测涡流相位误差。

技术领域

本申请涉及磁共振技术领域，特别是涉及一种相位误差探测方法、装置、磁共振系统及其成像方法。

背景技术

磁共振成像过程中，当梯度电流变化(上升或者下降)时，梯度线圈会产生反向感生电流阻止这种变化，感生电流形成新的磁场，即涡流。涡流的存在，会明显改变梯度电流的形状，从而对成像产生较大影响。

具体的，梯度电流变化过程中产生的涡流，会导致磁化矢量额外的相位累计误差或者梯度非线性图像伪影。比如EPI(Echo Planar Imaging，平面回波成像)，在完整K空间采集过程中，读梯度通过正反变化实现，因而奇数偶数行累计相位不一致，导致成像的N/2伪影；又如2D激发RF脉冲，当激发K空间的某一方向为正负往返的梯度时，正负梯度选层方向累计的相位存在差异，导致激发的N/2错误激发；又或者UTE(ultra-short echo-time，超短回波时间)成像中，理论梯度与实际梯度之间的偏差造成K空间位置的偏移，如果重建时不进行校正，将会在图像上有伪影，等等。针对不同原因导致的梯度不完美，有不同的补偿方案，如读出梯度造成的读出K空间误差可在重建补偿，激发梯度造成的激发K空间可在激发时做补偿。然而，无论哪种补偿方案，都需要对涡流相位误差进行准确的计算。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种相位误差探测方法、装置、磁共振系统及其成像方法。

一种相位误差探测方法，所述方法包括：

对检测对象施加第一测试序列，以获取第一相位信息，所述第一测试序列包括待测试梯度模块和射频脉冲，所述待测试梯度模块包括至少两个极性相反的梯度单元，其中，正向的梯度单元伴随射频脉冲；

对所述检测对象施加第二测试序列，以获取第二相位信息，所述第二测试序列包括所述待测试梯度模块和射频脉冲，其中，负向的梯度单元伴随射频脉冲；

根据所述第一相位信息和所述第二相位信息，计算所述待测试梯度模块对应的相位误差。

在其中一个实施例中，所述待测试梯度模块中，每个所述梯度单元的形状和面积相同，所述第一测试序列中，任一个正向的所述梯度单元伴随射频脉冲，所述根据所述第一相位信息和所述第二相位信息，计算所述待测试梯度模块对应的相位误差，包括：

根据所述第一相位信息和所述第二相位信息，计算所述待测试梯度模块中一个梯度单元对应的相位误差。

在其中一个实施例中，所述第一测试序列和所述第二测试序列中，射频脉冲分别伴随于所述待测试梯度模块的两个相邻的梯度单元。

在其中一个实施例中，所述第一测试序列中，所有正向的所述梯度单元伴随射频脉冲，所述根据所述第一相位信息和所述第二相位信息，计算所述待测试梯度模块对应的相位误差，包括：

根据所述第一相位信息和所述第二相位信息，计算所述待测试梯度模块中所有正向梯度单元和负向梯度单元对应的相位误差。

在其中一个实施例中，所述方法还包括：

根据计算得到的所述待测试梯度模块对应的相位误差，优化成像扫描中的梯度脉冲参数或者射频脉冲参数。

一种相位误差探测装置，所述装置包括：