[发明专利]一种TO-3P封装元件的波形测试机构在审
| 申请号： | 202010199762.4 | 申请日： | 2020-03-20 |
| 公开（公告）号： | CN111289830A | 公开（公告）日： | 2020-06-16 |
| 发明（设计）人： | 吴习山;沈向辉 | 申请（专利权）人： | 太仓市晨启电子精密机械有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/26;G01R13/00;H01L21/67;B07C5/344 |
| 代理公司： | 苏州瑞光知识产权代理事务所(普通合伙) 32359 | 代理人： | 罗磊 |
| 地址： | 215435 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种TO‑3P封装元件的波形测试机构，包括：机架、供料机构、换向机构、测试机构和收纳机构，供料机构、换向机构、测试机构和收纳机构固定安装在机架上，供料管放置在供料机构上，供料管内的元件运输方向依次为供料机构、换向机构、测试机构和收纳机构。本发明提供的一种TO‑3P封装元件的波形测试机构，对进行波形测试的元件利用机器视觉代替人工进行分类，大大提高元件的检测与分类效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 to 封装 元件 波形 测试 机构 | ||
【主权项】：
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