[发明专利]一种TO-3P封装元件的波形测试机构

说明书

本发明提供了一种TO‑3P封装元件的波形测试机构，包括：机架、供料机构、换向机构、测试机构和收纳机构，供料机构、换向机构、测试机构和收纳机构固定安装在机架上，供料管放置在供料机构上，供料管内的元件运输方向依次为供料机构、换向机构、测试机构和收纳机构。本发明提供的一种TO‑3P封装元件的波形测试机构，对进行波形测试的元件利用机器视觉代替人工进行分类，大大提高元件的检测与分类效率。

技术领域

本发明涉及一种波形测试机构，具体而言，涉及一种TO-3P封装元件的波形测试机构。

背景技术

TO-3P封装是一种常见的电子元件封装方法。TO-3P封装元件在生产出来后需要经过波形测试，来检查元件的性能，从而将合格产品和不合格产品区分开。

元件在进行波形测试时，对每颗元件进行测试，通过示波器显示波形。现在主要采用人工观察波形，来判断元件是否合格，从而将元件进行分类，对于人员的素质要求高，且分类效率低下。

发明内容

鉴于此，本发明提供了一种TO-3P封装元件的波形测试机构，对进行波形测试的元件利用机器视觉代替人工进行分类，大大提高元件的检测与分类效率。

为此，本发明提供了一种TO-3P封装元件的波形测试机构，包括：机架、供料机构、换向机构、测试机构和收纳机构，供料机构、换向机构、测试机构和收纳机构固定安装在机架上，供料管放置在供料机构上，供料管内的元件运输方向依次为供料机构、换向机构、测试机构和收纳机构。

进一步地，供料机构包括供料匣、换管气缸、顶管气缸、转管机构和空管箱，供料匣固定安装在机架上，供料管放置在供料匣内，换管气缸端部设置有推板，供料机构上设置有入料位，入料位两端分别设置有顶管气缸和转管机构，转管机构可转动的安装在机架上，换管气缸和顶管气缸的运动方向互相垂直。

进一步地，转管机构包括基座、第一气缸和第二气缸，基座可转动的安装在机架上，第一气缸穿设于基座的顶部，第二气缸的活塞杆固定安装在基座的底部。

进一步地，换向机构包括第一送料轨道、转盘和第二送料轨道，第一送料轨道和第二送料轨道对称布置在转盘两侧，转盘可转动的安装在机架上。

进一步地，转盘上设置有两个平行布置的条形孔，条形孔与第一送料轨道平行布置。

进一步地，测试机构包括测试单元和评判单元，测试单元固定安装在第二送料轨道一侧，评判单元固定安装在机架上，评判单元包括示波器和相机。

进一步地，收纳机构包括分料机构和收料机构。

进一步地，分料机构包括驱动电机、同步带和活动轨道，驱动电机固定安装在机架上，活动轨道固定安装在同步带上，驱动电机驱动同步带转动。

进一步地，驱动电机为步进电机。

进一步地，收料机构固定安装在分料机构一侧，收料机构包括合格品收纳部、二等品收纳部和不良品收纳部，合格品收纳部、二等品收纳部和不良品收纳部沿分料机构的长度方向平行布置。

本发明提供的一种TO-3P封装元件的波形测试机构，人工将装有未检测、待分类的元件的供料管置于供料机构中，元件经供料机构进入换向机构换向，在测试机构进行波形测试，最后被收纳机构分类收纳。波形测试机构运行过程中对元件进行计数。

供料机构的工作流程为：供料管放入供料匣，换管气缸通过端部的推板将供料管送到入料位；顶管气缸将供料管顶入转管机构的基座内，顶管气缸回位；第一气缸将供料管定位在基座内，第二气缸推动基座向上转动，基座倾斜，供料管内的元件滑落到换向机构的第一送料轨道上，进行下料；下料完成后，第二气缸回位，空的供料管放回到入料位，换管气缸将空的供料管送入空管箱中，完成供料。