[发明专利]一种TO-3P封装元件的波形测试机构

权利要求书

1.一种TO-3P封装元件的波形测试机构，其特征在于，包括：机架(1)、供料机构(2)、换向机构(3)、测试机构(4)和收纳机构(5)，所述供料机构(2)、所述换向机构(3)、所述测试机构(4)和所述收纳机构(5)固定安装在所述机架(1)上，供料管(6)放置在所述供料机构(2)上，所述供料管(6)内的元件(61)运输方向依次为所述供料机构(2)、所述换向机构(3)、所述测试机构(4)和所述收纳机构(5)。

2.根据权利要求1所述的一种TO-3P封装元件的波形测试机构，其特征在于，所述供料机构(2)包括供料匣(21)、换管气缸(22)、顶管气缸(23)、转管机构(24)和空管箱(25)，所述供料匣(21)固定安装在所述机架(1)上，所述供料管(6)放置在所述供料匣(21)内，所述换管气缸(22)端部设置有推板(221)，所述供料机构(2)上设置有入料位(26)，所述入料位(26)两端分别设置有所述顶管气缸(23)和所述转管机构(24)，所述转管机构(24)可转动的安装在所述机架(1)上，所述换管气缸(22)和所述顶管气缸(23)的运动方向互相垂直。

3.根据权利要求2所述的一种TO-3P封装元件的波形测试机构，其特征在于，所述转管机构(24)包括基座(241)、第一气缸(242)和第二气缸(243)，所述基座(241)可转动的安装在所述机架(1)上，所述第一气缸(242)穿设于所述基座(241)的顶部，所述第二气缸(243)的活塞杆固定安装在所述基座(241)的底部。

4.根据权利要求1所述的一种TO-3P封装元件的波形测试机构，其特征在于，所述换向机构(3)包括第一送料轨道(31)、转盘(32)和第二送料轨道(33)，所述第一送料轨道(31)和所述第二送料轨道(33)对称布置在所述转盘(32)两侧，所述转盘(32)可转动的安装在所述机架(1)上。

5.根据权利要求4所述的一种TO-3P封装元件的波形测试机构，其特征在于，所述转盘(32)上设置有两个平行布置的条形孔(321)，所述条形孔(321)与所述第一送料轨道(31)平行布置。

6.根据权利要求1所述的一种TO-3P封装元件的波形测试机构，其特征在于，所述测试机构(4)包括测试单元(41)和评判单元(42)，所述测试单元(41)固定安装在所述第二送料轨道(33)一侧，所述评判单元(42)固定安装在所述机架(1)上，所述评判单元(42)包括示波器(421)和相机(422)。

7.根据权利要求1所述的一种TO-3P封装元件的波形测试机构，其特征在于，所述收纳机构(5)包括分料机构(51)和收料机构(52)。

8.根据权利要求7所述的一种TO-3P封装元件的波形测试机构，其特征在于，所述分料机构(51)包括驱动电机(511)、同步带(512)和活动轨道(513)，所述驱动电机(511)固定安装在所述机架(1)上，所述活动轨道(513)固定安装在所述同步带(512)上，所述驱动电机(511)驱动所述同步带(512)转动。

9.根据权利要求8所述的一种TO-3P封装元件的波形测试机构，其特征在于，所述驱动电机(511)为步进电机。

10.根据权利要求7或8所述的一种TO-3P封装元件的波形测试机构，其特征在于，所述收料机构(52)固定安装在所述分料机构(51)一侧，所述收料机构(52)包括合格品收纳部(521)、二等品收纳部(522)和不良品收纳部(523)，所述合格品收纳部(521)、所述二等品收纳部(522)和所述不良品收纳部(523)沿所述分料机构(51)的长度方向平行布置。