[发明专利]3D存储器件及其制造方法有效
| 申请号: | 202010174271.4 | 申请日: | 2020-03-13 |
| 公开(公告)号: | CN111326525B | 公开(公告)日: | 2023-09-26 |
| 发明(设计)人: | 张红;李思晢;卢峰;高晶;周文斌 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
| 主分类号: | H10B43/35 | 分类号: | H10B43/35;H10B43/27 |
| 代理公司: | 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 | 代理人: | 蔡纯;李向英 |
| 地址: | 430074 湖北省武汉*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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| 摘要: | 本申请公开了一种3D存储器件及其制造方法。该3D存储器件的制造方法包括:在衬底上形成叠层结构;形成贯穿叠层结构的沟道孔与伪沟道孔;分别在沟道孔与伪沟道孔的内表面形成堆叠的栅介质层、电荷存储层、隧穿介质层以及半导体牺牲层,衬底与半导体牺牲层至少被栅介质层、电荷存储层以及隧穿介质层分隔;在伪沟道孔上方形成阻挡层,阻挡层封闭伪沟道孔;形成贯穿半导体牺牲层、隧穿介质层、电荷存储层以及栅介质层形成的通孔,通孔位于沟道孔底部;形成通孔后,删除阻挡层,其中,在形成通孔时,阻挡层至少保护位于伪沟道孔底部的半导体牺牲层、隧穿介质层、电荷存储层以及栅介质层不被去除。 | ||
| 搜索关键词: | 存储 器件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
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