[发明专利]一种射频器件功能测试装置及方法在审
| 申请号： | 202010162792.8 | 申请日： | 2020-03-10 |
| 公开（公告）号： | CN111355538A | 公开（公告）日： | 2020-06-30 |
| 发明（设计）人： | 杨洋 | 申请（专利权）人： | 焱行科技（上海）有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/15 | 分类号： | H04B17/15;H04B17/29 |
| 代理公司： | 上海启核知识产权代理有限公司 31339 | 代理人： | 达晓玲 |
| 地址： | 201800 上海市嘉定区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种射频器件功能测试装置及方法，功率放大器可以将信号源产生的微波源信号放大至被测件所需要被测试的任何大小的第一功率信号，功率计检测双定向耦合器从第一功率信号中分离出的正向功率信号，第一频谱分析模组检测所述被测件对第一功率信号的反射信号，功率衰减器将被测件输出端的功率信号衰减至第二功率信号，第二频谱分析模组检测第二功率信号，数据处理器基于所述微波源信号对所述反射信号和第二功率信号进行分析，从而获取所述被测件在不同功率信号下的特性。由于可以通过所述功率放大器任意放大所述被测件的输入端的信号的功率，因此利用上述射频器件功能测试装置可以完成对所述被测件在多个不同功率的输入信号下的功能分析，从而实现快速有效的对射频无源器件在大功率下的特性进行分析。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射频 器件 功能 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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