[发明专利]一种射频器件功能测试装置及方法

权利要求书

1.一种射频器件功能测试装置，用于测试被测件在不同功率信号下的特性，其特征在于，包括：壳体、以及位于所述壳体内的信号源、功率放大器、双定向耦合器、功率计、功率衰减器、第一频谱分析模组、第二频谱分析模组和数据处理器；

其中，所述被测件的输入端连接于所述双定向耦合器，输出端连接于所述功率衰减器；

所述双定向耦合器分别连接于所述被测件的输入端、功率计以及功率放大器，所述功率放大器将所述信号源产生的微波源信号放大到所述被测件需要被检测的第一功率信号，所述双定向耦合器对所述第一功率信号进行分离，所述功率计检测从所述第一功率信号中分离出的正向功率信号，所述第一频谱分析模组检测所述被测件对所述第一功率信号的反射信号；

所述功率衰减器连接于所述被测件的输出端，将所述被测件输出端的功率信号衰减至第二功率信号，所述第二频谱分析模组检测所述第二功率信号；

所述信号源、功率放大器、双定向耦合器以及功率衰减器均连接于所述数据处理器，所述数据处理器基于所述微波源信号对所述反射信号和第二功率信号进行分析。

2.如权利要求1所述的射频器件功能测试装置，其特征在于，所述壳体上设有第一接口端和第二接口端，所述被测件的输入端连接于所述第一接口端，所述被测件的输出端连接于所述第二接口端。

3.如权利要求1所述的射频器件功能测试装置，其特征在于，所述壳体上还设有显示屏，所述显示屏连接于所述数据处理器。

4.如权利要求1所述的射频器件功能测试装置，其特征在于，还包括多个散热器，对所述壳体内的信号源、功率放大器、双定向耦合器、功率计、功率衰减器、第一频谱分析模组、第二频谱分析模组和数据处理器散热。

5.如权利要求1中所述的射频器件功能测试装置，其特征在于，所述第一功率信号的功率包括1瓦～1000瓦。

6.如权利要求1中所述的射频器件功能测试装置，其特征在于，所述信号源包括矢量信号源。

7.一种使用权利要求1至6中任意一项所述的射频器件功能测试装置对被测件进行特性测试的方法，其特征在于，包括：

将被测件的输入端连接于射频器件功能测试装置中的双定向耦合器，输出端连接于所述射频器件功能测试装置中的功率衰减器；

通过所述射频器件功能测试装置中的功率放大器，对所述被测件施加其需要被检测的第一功率信号，通过所述射频器件功能测试装置中的功率计检测所述双定向耦合器分离出的正向功率信号，通过所述射频器件功能测试装置中的第一频谱分析模组获取所述被测件对所述第一功率信号的反射信号；

所述射频器件功能测试装置中的功率衰减器将所述被测件输出端的功率信号衰减至第二功率信号，第二频谱分析模组检测所述第二功率信号；

所述射频器件功能测试装置的数据处理器基于所述微波源信号对所述反射信号和第二功率信号进行分析。

8.如权要求7所述的测试方法，其特征在于，所述被测件的输入端连接于所述射频器件功能测试装置的壳体上设有的第一接口端，所述被测件的输出端连接于所述壳体上设有的第二接口端。

9.如权利要求7所述的测试方法，其特征在于，所述第一功率信号的功率包括1瓦～1000瓦。