[发明专利]一种射频器件功能测试装置及方法

说明书

本发明提供了一种射频器件功能测试装置及方法，功率放大器可以将信号源产生的微波源信号放大至被测件所需要被测试的任何大小的第一功率信号，功率计检测双定向耦合器从第一功率信号中分离出的正向功率信号，第一频谱分析模组检测所述被测件对第一功率信号的反射信号，功率衰减器将被测件输出端的功率信号衰减至第二功率信号，第二频谱分析模组检测第二功率信号，数据处理器基于所述微波源信号对所述反射信号和第二功率信号进行分析，从而获取所述被测件在不同功率信号下的特性。由于可以通过所述功率放大器任意放大所述被测件的输入端的信号的功率，因此利用上述射频器件功能测试装置可以完成对所述被测件在多个不同功率的输入信号下的功能分析，从而实现快速有效的对射频无源器件在大功率下的特性进行分析。

技术领域

本发明属于射频测试领域，涉及一种射频器件功能测试装置及方法。

背景技术

射频无源元器件及芯片，如天线、GaN/GaAs/LDMOS功率芯片、滤波器、耦合器、合路器、衰减器、隔离器、环形器、电桥、射频开关、负载、射频电阻等，都是组成射频/微波和无线通信系统的重要组成部分；是民用通信、军事通信、卫星通信、雷达、电子对抗、导航及制导设备及系统中必不可少且对系统指标、可靠性影响极大的关键器件。小到手机，大到卫星、雷达，都能看到射频无源元器件及芯片的身影，尤其在无线通信的发射端，使用的射频无源器件会更多。

而在无线通信设备的发射端，往往需要将这些射频/微波信号放大到很大的功率，以提高其效果，比如通信基站采用大功率扩大其覆盖范围，军用雷达需要发射大功率提高其探测距离，电子对抗设备需要更大的功率对地方通信或雷达信号进行压制干扰等。所以射频无源器件及芯片在大功率下的特性就显得尤为重要。

基于此，亟需一种射频器件功能测试装置及方法，以快速有效的对射频无源器件在大功率下的特性进行分析。

发明内容

本发明的目的是为了提供一种射频器件功能测试装置及方法，可以快速有效的对射频无源器件在大功率下的特性进行分析。

本发明提供了一种射频器件功能测试装置，用于测试被测件在不同功率信号下的特性，包括：壳体、以及位于所述壳体内的信号源、功率放大器、双定向耦合器、功率计、功率衰减器、第一频谱分析模组、第二频谱分析模组和数据处理器；

其中，所述被测件的输入端连接于所述双定向耦合器，输出端连接于所述功率衰减器；

所述双定向耦合器分别连接于所述被测件的输入端、功率计以及功率放大器，所述功率放大器将所述信号源产生的微波源信号放大到所述被测件需要被检测的第一功率信号，所述双定向耦合器对所述第一功率信号进行分离，所述功率计检测从所述第一功率信号中分离出的正向功率信号，所述第一频谱分析模组检测所述被测件对所述第一功率信号的反射信号；

所述功率衰减器连接于所述被测件的输出端，将所述被测件输出端的功率信号衰减至第二功率信号，所述第二频谱分析模组检测所述第二功率信号；

所述信号源、功率放大器、双定向耦合器以及功率衰减器均连接于所述数据处理器，所述数据处理器基于所述微波源信号对所述反射信号和第二功率信号进行分析。

优选的，在上述的射频器件功能测试装置中，所述壳体上设有第一接口端和第二接口端，所述被测件的输入端连接于所述第一接口端，所述被测件的输出端连接于所述第二接口端。

优选的，在上述的射频器件功能测试装置中，所述壳体上还设有显示屏，所述显示屏连接于所述数据处理器。

优选的，在上述的射频器件功能测试装置中，还包括多个散热器，对所述壳体内的信号源、功率放大器、双定向耦合器、功率计、功率衰减器、第一频谱分析模组、第二频谱分析模组和数据处理器散热。

优选的，在上述的射频器件功能测试装置中，所述第一功率信号的功率包括1瓦～1000瓦。