[发明专利]一种用于快速测试LED芯片抗水解性能的系统及方法在审
| 申请号： | 202010143107.7 | 申请日： | 2020-03-04 |
| 公开（公告）号： | CN111190095A | 公开（公告）日： | 2020-05-22 |
| 发明（设计）人： | 余金隆;庄家铭 | 申请（专利权）人： | 佛山市国星半导体技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/26;G01R1/04 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 胡枫;李素兰 |
| 地址： | 528200 广东省佛山市南海区狮*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种用于快速测试LED芯片抗水解性能的系统及方法，其中所述系统包括：温湿调节器，所述温湿调节器设有腔体；连接在腔体内壁的旋转装置，所述旋转装置可沿着腔体的内壁进行旋转；支架，所述支架为杯状结构，LED芯片安装在支架上并与支架形成导电连接；测试基板，所述支架固定在测试基板上，且所述支架与测试基板导电连接，所述测试基板连接在旋转装置上；通过旋转装置调节LED芯片的朝向，向测试基板通入逆向电压，并调节腔体内的温湿度，以对LED芯片进行冲击测试。通过旋转装置调整LED芯片的朝向，有效加快LED芯片的水解速度，从而缩短检测时间。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 快速 测试 led 芯片 水解 性能 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于佛山市国星半导体技术有限公司，未经佛山市国星半导体技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010143107.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种变频恒温恒湿粮仓专用空调装置
- 下一篇：一种互馈式辅助电源电路
