[发明专利]利用逆卷积提高光谱仪系统分辨率的方法有效
| 申请号： | 202010115700.0 | 申请日： | 2020-02-25 |
| 公开（公告）号： | CN111272280B | 公开（公告）日： | 2020-12-15 |
| 发明（设计）人： | 毛京京;朱伟明;欧中华;李剑峰;刘永 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28;G01J3/04 |
| 代理公司： | 成都正华专利代理事务所(普通合伙) 51229 | 代理人： | 陈选中 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种利用逆卷积提高光谱仪系统分辨率的方法，涉及光检测技术领域，其包括：S1、选择入口狭缝宽度可调的光谱仪系统；S2、调节光谱仪系统的入口狭缝宽度；S3、根据光谱仪系统参数计算得到当前入口狭缝宽度下单波长成像宽度所占像素个数p；S4、保持入口狭缝宽度不变，将宽谱光入射至光谱仪系统的入口狭缝，通过该光谱仪系统测量得到单波长成像宽度占据p个像素时的低分辨率光谱数据；重复步骤S2～S4，直至得到N组不同的低分辨率光谱数据；将不同的低分辨率光谱数据组合，通过逆卷积得到高分辨率光谱数据。本发明利用逆卷积提高光谱仪系统分辨率，提升效果明显，能够极好的满足弱待测光信号的检测。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 卷积 提高 光谱仪 系统 分辨率 方法 | ||
【主权项】：
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