[发明专利]利用逆卷积提高光谱仪系统分辨率的方法

权利要求书

1.一种利用逆卷积提高光谱仪系统分辨率的方法，其特征在于，包括：

S1、选择入口狭缝宽度可调的光谱仪系统；

S2、调节光谱仪系统的入口狭缝宽度；

S3、根据光谱仪系统参数计算或实际测量得到当前入口狭缝宽度下单波长成像宽度所占像素个数p；

S4、保持入口狭缝宽度不变，将宽谱光入射至光谱仪系统的入口狭缝，通过该光谱仪系统测量得到单波长成像宽度占据p个像素时的低分辨率光谱数据；

重复步骤S2～S4，直至得到N组不同的低分辨率光谱数据，其中每次调节得到的入口狭缝宽度均不同；

将不同的低分辨率光谱数据组合，通过逆卷积得到高分辨率光谱数据；

在进行逆卷积时，将各入口狭缝宽度下单波长成像宽度所占像素个数p作为卷积窗口宽度，各低分辨率光谱数据所对应的光谱仪系统的探测器的量子效率作为卷积核系数。

2.根据权利要求1所述利用逆卷积提高光谱仪系统分辨率的方法，其特征在于，所述步骤S4中的宽谱光强度在入口狭缝分布均匀。

3.根据权利要求1所述利用逆卷积提高光谱仪系统分辨率的方法，其特征在于，低分辨率光谱数据的组数N≥2。

4.根据权利要求1所述利用逆卷积提高光谱仪系统分辨率的方法，其特征在于，逆卷积得到的高分辨率光谱数据等效为1个像素宽度的光谱分辨率数据。

5.如权利要求1所述利用逆卷积提高光谱仪系统分辨率的方法，其特征在于，各入口狭缝宽度下单波长成像宽度所占像素个数p＞1。