[发明专利]单晶X射线结构解析装置和方法、用于此的试样保持架以及敷料器在审
| 申请号： | 201980088767.5 | 申请日： | 2019-11-21 |
| 公开（公告）号： | CN113287005A | 公开（公告）日： | 2021-08-20 |
| 发明（设计）人： | 佐藤孝 | 申请（专利权）人： | 株式会社理学 |
| 主分类号： | G01N23/20025 | 分类号： | G01N23/20025;G01N23/205;G01N23/207;G01N1/28 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 张远 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供一种迅速进行使用了细孔性络合物结晶(晶体海绵)的单晶X射线结构解析、包括相关信息的管理在内容易的用户友好的单晶X射线结构解析装置和方法、用于其的试样保持架以及敷料器。单晶X射线结构解析装置是进行物质的结构解析的单晶X射线结构解析装置，具备：X射线源，产生X射线；试样保持架(250)，包括能够在形成于内部的多个微细孔吸藏试样的细孔性络合物结晶(200)，保持试样；测角仪，安装并转动试样保持架(250)；X射线照射部，对安装于测角仪的试样保持架所保持的试样照射来自X射线源的X射线；X射线检测测定部，检测通过试样衍射或者散射的X射线来进行测定；结构解析部，基于由X射线检测测定部测定出的衍射或者散射X射线来进行试样的结构解析；以及信息取得部(600)，取得与细孔性络合物结晶相关的信息(220)。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 结构 解析 装置 方法 用于 试样 保持 以及 敷料 | ||
【主权项】：
暂无信息
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