[发明专利]单晶X射线结构解析装置以及试样保持架在审
| 申请号： | 201980088735.5 | 申请日： | 2019-11-21 |
| 公开（公告）号： | CN113287002A | 公开（公告）日： | 2021-08-20 |
| 发明（设计）人： | 佐藤孝 | 申请（专利权）人： | 株式会社理学 |
| 主分类号： | G01N23/20016 | 分类号： | G01N23/20016;G01N23/20025;G01N23/205;G01N23/207 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 张远 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 能够比较容易且再现性良好且可靠地将保持有吸藏了单晶的细孔性络合物结晶的试样保持架装备于测角仪头。单晶X射线结构解析装置是进行物质的结构解析的单晶X射线结构解析装置，具备：X射线源，产生X射线；测角仪，具备的测角仪头(514)，该测角仪头(514)装备保持有吸藏了试样的细孔性络合物结晶的试样保持架(310)；X射线照射部，将X射线照射到位置被所述测角仪头(514)调整的所述细孔性络合物结晶；X射线检测测定部，检测通过所述试样衍射或者散射的X射线来进行测定；以及结构解析部，基于在所述X射线检测测定部测定出的衍射或者散射X射线来进行所述试样的结构解析，在所述测角仪头(514)的装备所述试样保持架的面形成有决定装备所述试样保持架(310)的位置的定位部。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 结构 解析 装置 以及 试样 保持 | ||
【主权项】：
暂无信息
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