[发明专利]单晶X射线结构解析装置以及试样保持架

说明书

能够比较容易且再现性良好且可靠地将保持有吸藏了单晶的细孔性络合物结晶的试样保持架装备于测角仪头。单晶X射线结构解析装置是进行物质的结构解析的单晶X射线结构解析装置，具备：X射线源，产生X射线；测角仪，具备的测角仪头(514)，该测角仪头(514)装备保持有吸藏了试样的细孔性络合物结晶的试样保持架(310)；X射线照射部，将X射线照射到位置被所述测角仪头(514)调整的所述细孔性络合物结晶；X射线检测测定部，检测通过所述试样衍射或者散射的X射线来进行测定；以及结构解析部，基于在所述X射线检测测定部测定出的衍射或者散射X射线来进行所述试样的结构解析，在所述测角仪头(514)的装备所述试样保持架的面形成有决定装备所述试样保持架(310)的位置的定位部。

技术领域

本发明涉及单晶X射线结构解析装置，特别是涉及适于装备吸藏了试样的试样保持架并利用单晶X射线结构解析装置进行解析的单晶X射线结晶结构解析装置以及试样保持架。

背景技术

在新的器件、材料的研究开发中，日常地进行材料的合成、材料的评价、基于此的接下来的研究方针的决定。在使用了用于在短期内进行材料开发的X射线衍射的物质的结构解析中，为了高效地探索实现目标材料的功能/物性的物质结构，需要以能够有效地进行结构解析的物质的结构解析为中心的物质结构的探索方法和在其中使用的X射线结构解析。

但是，基于利用该方法得到的结果进行结构解析，必须是X射线的专家。因此，要求即使不是X射线的专家也能够进行结构解析的X射线结构解析系统。其中，特别是如以下的专利文献1中也已知的那样，单晶X射线结构解析作为能够得到准确且精度高的分子的立体结构的方法而受到关注。

另一方面，在该单晶X射线结构解析中，存在必须使试样结晶化而准备单晶的大的制约。然而，如以下的非专利文献1、2已知的那样，通过开发被称为“晶体海绵”的材料(例如，开了无数直径0.5nm～1nm的细孔的细孔性络合物结晶)，也包括未结晶化的液体状化合物、无法确保足以进行结晶化的量的试样等，能够广泛地应用单晶X射线结构解析。

在单晶X射线结构解析的领域中，在利用单晶X射线结构解析装置对单晶样本进行解析而求出单晶的结晶结构的情况下，难以制作分析对象的单晶样本，进而，为了从利用单晶X射线结构解析装置对该分析对象的单晶样本进行解析而得到的数据求出单晶的结晶结构，需要经验和直觉等熟练度，只有非常有限的人能操作。

另一方面，近年来，单晶X射线结构解析装置的技术开发不断发展，只要获得单晶样本，则即使是结晶结构解析技术不熟练的人，也能够利用单晶X射线结构解析装置解析单晶样本，能够比较容易地求出单晶样本的结晶结构。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利第4792219号公报

非专利文献

非专利文献1：Makoto Fujita；X-ray analysis on the nanogram to microgramscale using porous complexes；Nature 495，461-466；28 March 2013

非专利文献2：复查“晶体海绵法～不需要结晶化的单晶X射线结构解析法”、Rigaku journal48(2)2017

发明内容

发明要解决的课题

在现有技术中，如非专利文献1所记载的那样，将形成有大量微细的孔的极微小且脆弱(fragile)的晶体海绵形成，在该晶体海绵的微细的孔的内部吸藏试样，利用单晶X射线结构解析装置对其进行解析，由此能够比较容易地求出单晶的结晶结构。