[发明专利]单晶X射线结构解析装置以及试样保持架

权利要求书

1.一种单晶X射线结构解析装置，是进行物质的结构解析的单晶X射线结构解析装置，其特征在于，具备：

X射线源，产生X射线；

测角仪，具备测角仪头，该测角仪头装备保持有吸藏了试样的细孔性络合物结晶的试样保持架；

X射线照射部，将X射线照射到位置被所述测角仪头调整的所述细孔性络合物结晶；

X射线检测测定部，检测通过所述试样衍射或者散射的X射线来进行测定；以及

结构解析部，基于在所述X射线检测测定部测定出的衍射或者散射X射线来进行所述试样的结构解析，

在所述测角仪头的装备所述试样保持架的面形成有决定装备所述试样保持架的位置的定位部。

2.根据权利要求1所述的单晶X射线结构解析装置，其中，

所述定位部具有与所述试样保持架嵌合的嵌合结构。

3.根据权利要求2所述的单晶X射线结构解析装置，其中，

所述嵌合结构形成于所述测角仪头的前端部。

4.根据权利要求2或3所述的单晶X射线结构解析装置，其中，

所述试样保持架在装备于所述测角仪头的面具有形成有锥部的贯通孔，

所述嵌合结构容纳于所述锥部的内部。

5.根据权利要求2～4中的任一项所述的单晶X射线结构解析装置，其中，

所述嵌合结构设为半球状或者顶部变圆的圆锥形状。

6.根据权利要求2～5中的任一项所述的单晶X射线结构解析装置，其中，

所述嵌合结构在所述测角仪头的装备所述试样保持架的部分形成于多个位置。

7.一种试样保持架，是在单晶X射线结构解析装置中使用的试样保持架，其特征在于，具备：

基台部，装备于所述单晶X射线结构解析装置的测角仪的测角仪头；以及

保持部，形成于所述基台部，保持能够在形成于内部的多个微细孔吸藏试样的细孔性络合物结晶，

所述基台部形成与所述测角仪头嵌合的嵌合结构。

8.根据权利要求7所述的试样保持架，其中，

所述嵌合结构具有锥部，

所述基台部形成用于将所述试样导入所述细孔性络合物结晶的试样导入结构，

所述锥部形成在所述试样导入结构的向测角仪头装备一侧。