[发明专利]用于对型坯进行光学检查的装置在审
| 申请号： | 201980088514.8 | 申请日： | 2019-12-12 |
| 公开（公告）号： | CN113631350A | 公开（公告）日： | 2021-11-09 |
| 发明（设计）人： | 多纳托·拉伊科;西蒙娜·尼格罗 | 申请（专利权）人： | 伊莫拉SACMI机械合作公司 |
| 主分类号： | B29C49/80 | 分类号： | B29C49/80;B29C49/78;B29C49/06;B29L31/00;B29K67/00 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 丁文蕴;李平 |
| 地址： | 意大利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于对型坯(2)进行光学检查的装置(1)，包括：发光器(3)，其被构造为发出指向位于检查位置(10)处的型坯(2)的光束；探测器(4)，其被构造为捕获介于发光器(3)与探测器(4)之间的型坯(2)的图像(10)，其中发光器(3)包括发射偏振滤光器(32)，其被构造为产生偏振光束，并且其中探测器(4)包括接收偏振滤光器(41)，其被构造为接收偏振光束。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 进行 光学 检查 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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