[发明专利]用于对型坯进行光学检查的装置在审

专利信息
申请号: 201980088514.8 申请日: 2019-12-12
公开(公告)号: CN113631350A 公开(公告)日: 2021-11-09
发明(设计)人: 多纳托·拉伊科;西蒙娜·尼格罗 申请(专利权)人: 伊莫拉SACMI机械合作公司
主分类号: B29C49/80 分类号: B29C49/80;B29C49/78;B29C49/06;B29L31/00;B29K67/00
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 丁文蕴;李平
地址: 意大利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 进行 光学 检查 装置
【说明书】:

一种用于对型坯(2)进行光学检查的装置(1),包括:发光器(3),其被构造为发出指向位于检查位置(10)处的型坯(2)的光束;探测器(4),其被构造为捕获介于发光器(3)与探测器(4)之间的型坯(2)的图像(10),其中发光器(3)包括发射偏振滤光器(32),其被构造为产生偏振光束,并且其中探测器(4)包括接收偏振滤光器(41),其被构造为接收偏振光束。

技术领域

本发明涉及一种用于对型坯进行光学检查的装置。

用于制造塑料容器、特别是瓶体的生产线通常包括被构造为通过PET(聚对苯二甲酸乙二醇酯)来形成型坯的成型机以及被构造为在模具中对型坯进行吹塑来制成容器的吹塑机。一些预制件可能是有缺陷的,例如不规则的厚度、孔、气泡或者外来物体;这些缺陷必须通过快速检查来检测,从而快速地从生产线中移除缺陷型坯。

背景技术

专利文件EP2976204B1中已知一种用于对型坯进行光学检查的系统,其被构造为在型坯通过传送机朝向收集容器输送时检查型坯;该系统包括摄像机和光源,它们被设置为使得光源从后方照亮型坯并且摄像机从前方捕获每个型坯的图像。

在以下文件中公开了其他的检查系统:US2017/129157A1、DE102006047150A1、US2018/311883A1。现有技术的光学检查系统的一种局限在于,它们将质量检查限制于摄像机可见的图像特征(例如,气泡),但是不能检测材料的内部缺陷,例如PET的聚合物链中的不规则的残余应力。

另外,现有技术的系统基于与储存在数据库中的其他缺陷型坯的图像之间的相似性来检测缺陷型坯。这些系统因此必须通过包含有所有需要进行检测的可行缺陷的数据库来初始化;然而,难以找到这种类型的完整且详尽的数据库,因为缺陷是多种多样的并且缺陷型坯仅构成所制造的型坯的一小部分。

因此,总的来说,现有技术的系统在识别缺陷型坯方面可靠性有限。

发明内容

本公开的目的是提供一种用于对型坯进行光学检查的装置和方法,以克服现有技术的上述缺陷。本公开的另一个目的是提供一种用于对型坯的图像进行处理的方法,以克服现有技术的上述缺陷。

根据本公开,这些目的通过所附权利要求中表征的用于对型坯进行光学检查的装置、通过用于对型坯进行光学检查的方法以及通过用于对型坯的图像进行处理的方法完全实现。

更具体地,本公开涉及一种用于对型坯(或预制件)或塑料材料制成的其他物品(例如,罩或胶囊)或金属制成的其他物品(例如,盖)进行光学检查的装置;在这方面,应理解的是本说明书的参考型坯做出的剩余部分也适用于塑料或金属材料制成的其他物品。词语“型坯”用于表示制造塑料容器(例如,饮料瓶)的程序中的中间产品。更具体地,型坯通过对塑料材料进行成型(通常是注射成型或压缩成型)来形成,并且在之后的阶段中通过吹塑而膨胀,从而形成最终的容器。型坯由塑料材料制成,优选PET(聚对苯二甲酸乙二醇酯)。

根据本公开的用于对型坯进行光学检查的装置包括发光器。该发光器包括被构造为发出指向位于检查位置处的型坯的光束的光源。

在一个实施方式中,所述装置包括检查腔,其被构造为在检查位置处接收型坯。在另一个实施方式中,被构造为在检查位置处接收型坯的检查腔是除了别的之外包括所述装置的生产线的一部分。

所述装置包括探测器。该探测器包括摄像机。该摄像机(即,探测器)被构造为捕获位于检查位置处的型坯的图像。

在一个实施方式中,光源被构造为连续地发出光束。在一个实施方式中,光源是频闪仪并且被构造为以预定的发射间隔发出光束(每个发射间隔都对应于将型坯供应到检查位置所用的时间)。

在一个实施方式中,摄像机被构造为以预定的捕获间隔捕获图像(每个捕获间隔都对应于将型坯供应到检查位置所用的时间);如果光源是频闪仪,则发射间隔对应于(即,等于)该捕获间隔。

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